Информационно-измерительный криокомплекс для исследований пленочных гетероструктур

Для комплексных исследований вольт-амперных характеристик (ВАХ) полупроводниковых и сверхпроводниковых плёночных гетероструктур в широком температурном интервале при воздействии токовой инжекции, магнитного поля и оптического излучения был создан компьютеризированный информационно-измерительный кри...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2011
Автори: Жарков, И.П., Иващенко, А.Н., Руденко, Э.М., Короташ, И.В., Краковный, А.А., Сафронов, В.В., Ходунов, В.А.
Формат: Стаття
Мова:Russian
Опубліковано: Видавничий дім "Академперіодика" НАН України 2011
Назва видання:Наука та інновації
Теми:
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/115303
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Информационно-измерительный криокомплекс для исследований пленочных гетероструктур / И.П. Жарков, А.Н. Иващенко, Э.М. Руденко, И.В. Короташ, А.А. Краковный, В.В. Сафронов, В.А. Ходунов // Наука та інновації. — 2011. — Т. 7, № 2. — С. 5-9. — Бібліогр.: 10 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Опис
Резюме:Для комплексных исследований вольт-амперных характеристик (ВАХ) полупроводниковых и сверхпроводниковых плёночных гетероструктур в широком температурном интервале при воздействии токовой инжекции, магнитного поля и оптического излучения был создан компьютеризированный информационно-измерительный криокомплекс (ИИК), не имеющий мировых аналогов. Предлагаемый нами криокомплекс позволяет проводить прецизионную стабилизацию температуры образцов в диапазоне 1,6 ÷ 330 К, воздействовать магнитным полем индукцией до 2 Тл, проводить измерение ВАХ с возможностью управления током «накачки», что особо важно при исследовании транзисторных структур. Программное обеспечение компьютера позволяет автоматизировать согласованную работу модулей комплекса, а также обработку, сохранение и выдачу данных измерений в необходимом виде.