Проектирование многозондовых устройств для тестирования электронных компонентов с шариковыми выводами

В продолжение работ авторов по проектированию многозондового подключающего устройства для контроля изделий с матричными шариковыми выводами, представлены новые результаты исследований опытного образца устройства. Предложено изменить форму зонда для снижения трудоемкости проектирования МПУ. Разработа...

Повний опис

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Видавець:	Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
Дата:	2016
Автори:	Невлюдов, И.Ш., Палагин, В.А., Разумов-Фризюк, Е.А., Жарикова, И.В.
Формат:	Стаття
Мова:	Russian
Опубліковано:	Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2016
Назва видання:	Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Теми:	Электронные средства: исследования, разработки
Онлайн доступ:	http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/115676
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Цитувати:	Проектирование многозондовых устройств для тестирования электронных компонентов с шариковыми выводами / И.Ш. Невлюдов, В.А. Палагин, Е.А. Разумов-Фризюк, И.В. Жарикова // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2016. — № 2-3. — С. 15-20. — Бібліогр.: 15 назв. — рос.

Репозиторії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

id	irk-123456789-115676
record_format	dspace
spelling	irk-123456789-1156762017-04-10T03:02:21Z Проектирование многозондовых устройств для тестирования электронных компонентов с шариковыми выводами Невлюдов, И.Ш. Палагин, В.А. Разумов-Фризюк, Е.А. Жарикова, И.В. Электронные средства: исследования, разработки В продолжение работ авторов по проектированию многозондового подключающего устройства для контроля изделий с матричными шариковыми выводами, представлены новые результаты исследований опытного образца устройства. Предложено изменить форму зонда для снижения трудоемкости проектирования МПУ. Разработана коммутационная плата с ZIP-разъемами для подключения МПУ к автоматизированному измерительному устройству. В продовження робіт авторів з проектування багатозондового підмикального пристрою (БПП) для контролю виробів з матричними кульковими виводами, представлено нові результати досліджень експерементального зразка пристрою. Запропоновано змінити форму зонда для зниження трудомісткості проектування БПП. Розроблено комутаційну плату з ZIP-роз'ємами для підключення БПП до автоматизованого вимірювального пристрою. In the article design and technological features of multiprobe connecting device for testing the electronic components with matrix ball leads are described and substantiated. Such test fixture has probes made as two separated flatcontact lands that can be used for testing BGA/CSP components or microelectromechanical devices. Only in case, when two parts of probe contact lands are pressed to according lead of electronic component, electrical circuit between them closes. This fact confirms presence of contact between testing fixture probe and tested lead of BGA device and can be considered as way of testing reliability increasing. Due to the proposed new form of contact probe for electronic component testing it became possible to simplify the topology of connecting circuit board. Developed commutative board with ZIF connectors allows realizing multiprobe device connection to automated measuring systems, providing also the possibility of its future application to test other electronic components with more leads. Also the results of experimental and modeling research of developed device prototype are presented and explained. Obtained results substantiate the basic requirements for the multiprobe connecting device that should be observed during its contacting to the unit under test. Designed test fixture is more simple and cheap in comparison with its analogues. Also developed method of testing effectively provides the necessary contact pressure between test fixture and unit under test without hazard of its deformation which can appear in similar devices. 2016 Article Проектирование многозондовых устройств для тестирования электронных компонентов с шариковыми выводами / И.Ш. Невлюдов, В.А. Палагин, Е.А. Разумов-Фризюк, И.В. Жарикова // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2016. — № 2-3. — С. 15-20. — Бібліогр.: 15 назв. — рос. 2225-5818 DOI: 10.15222/TKEA2016.2-3.15 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/115676 621.317 ru Технология и конструирование в электронной аппаратуре Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
institution	Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection	DSpace DC
language	Russian
topic	Электронные средства: исследования, разработки Электронные средства: исследования, разработки
spellingShingle	Электронные средства: исследования, разработки Электронные средства: исследования, разработки Невлюдов, И.Ш. Палагин, В.А. Разумов-Фризюк, Е.А. Жарикова, И.В. Проектирование многозондовых устройств для тестирования электронных компонентов с шариковыми выводами Технология и конструирование в электронной аппаратуре
description	В продолжение работ авторов по проектированию многозондового подключающего устройства для контроля изделий с матричными шариковыми выводами, представлены новые результаты исследований опытного образца устройства. Предложено изменить форму зонда для снижения трудоемкости проектирования МПУ. Разработана коммутационная плата с ZIP-разъемами для подключения МПУ к автоматизированному измерительному устройству.
format	Article
author	Невлюдов, И.Ш. Палагин, В.А. Разумов-Фризюк, Е.А. Жарикова, И.В.
author_facet	Невлюдов, И.Ш. Палагин, В.А. Разумов-Фризюк, Е.А. Жарикова, И.В.
author_sort	Невлюдов, И.Ш.
title	Проектирование многозондовых устройств для тестирования электронных компонентов с шариковыми выводами
title_short	Проектирование многозондовых устройств для тестирования электронных компонентов с шариковыми выводами
title_full	Проектирование многозондовых устройств для тестирования электронных компонентов с шариковыми выводами
title_fullStr	Проектирование многозондовых устройств для тестирования электронных компонентов с шариковыми выводами
title_full_unstemmed	Проектирование многозондовых устройств для тестирования электронных компонентов с шариковыми выводами
title_sort	проектирование многозондовых устройств для тестирования электронных компонентов с шариковыми выводами
publisher	Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
publishDate	2016
topic_facet	Электронные средства: исследования, разработки
url	http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/115676
citation_txt	Проектирование многозондовых устройств для тестирования электронных компонентов с шариковыми выводами / И.Ш. Невлюдов, В.А. Палагин, Е.А. Разумов-Фризюк, И.В. Жарикова // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2016. — № 2-3. — С. 15-20. — Бібліогр.: 15 назв. — рос.
series	Технология и конструирование в электронной аппаратуре
work_keys_str_mv	AT nevlûdoviš proektirovaniemnogozondovyhustrojstvdlâtestirovaniâélektronnyhkomponentovsšarikovymivyvodami AT palaginva proektirovaniemnogozondovyhustrojstvdlâtestirovaniâélektronnyhkomponentovsšarikovymivyvodami AT razumovfrizûkea proektirovaniemnogozondovyhustrojstvdlâtestirovaniâélektronnyhkomponentovsšarikovymivyvodami AT žarikovaiv proektirovaniemnogozondovyhustrojstvdlâtestirovaniâélektronnyhkomponentovsšarikovymivyvodami
first_indexed	2024-03-30T09:33:05Z
last_indexed	2024-03-30T09:33:05Z
_version_	1796150180297310208

Проектирование многозондовых устройств для тестирования электронных компонентов с шариковыми выводами

Репозиторії

Схожі ресурси