Подготовка образцов металлов и сплавов на основе железа для исследования на растровом электронном микроскопе методом дифракции отраженных электронов

Метод дифракции отраженных электронов на растровом электронном микроскопе сегодня применяется в различных областях исследования: в металлообрабатывающей промышленности, аэрокосмической отрасли, атомной, автомобильной, микроэлектронной промышленности и научных исследованиях. При использовании этого...

Повний опис

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Видавець:	Видавничий дім "Академперіодика" НАН України
Дата:	2013
Автор:	Верцанова, Е.В.
Формат:	Стаття
Мова:	Russian
Опубліковано:	Видавничий дім "Академперіодика" НАН України 2013
Назва видання:	Наука та інновації
Теми:	Світ інновацій
Онлайн доступ:	http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/116255
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Цитувати:	Подготовка образцов металлов и сплавов на основе железа для исследования на растровом электронном микроскопе методом дифракции отраженных электронов / Е.В. Верцанова // Наука та інновації. — 2013. — Т. 9, № 2. — С. 72-76. — рос.

Репозиторії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

id	irk-123456789-116255
record_format	dspace
spelling	irk-123456789-1162552017-04-24T03:02:52Z Подготовка образцов металлов и сплавов на основе железа для исследования на растровом электронном микроскопе методом дифракции отраженных электронов Верцанова, Е.В. Світ інновацій Метод дифракции отраженных электронов на растровом электронном микроскопе сегодня применяется в различных областях исследования: в металлообрабатывающей промышленности, аэрокосмической отрасли, атомной, автомобильной, микроэлектронной промышленности и научных исследованиях. При использовании этого метода важным является качество подготовки поверхности образца. Оборудование и методики производителя лабораторного оборудования Struers (Дания) для пробоподготовки помогут исследователю решить эту проблему и обеспечить качественную полированную поверхность образцов. В статье описаны основные этапы пробоподготовки и даны рекомендации по выбору оборудования и режимам его работы. Метод дифракції відбитих електронів на растровому електронному мікроскопі сьогодні застосовується в різних областях дослідження: в металообробній промисловості, аерокосмічній галузі, атомній, автомобільній, мікроелектронній промисловості та наукових експериментах. При застосуванні цього методу важливою є якість підготовки поверхні зразка. Обладнання та методики виробника лабораторного обладнання Struers (Данія) допоможуть досліднику вирішити цю проблему і забезпечити якісну поліровану поверхню зразків. У статті описані основні етапи пробопідготовки і наведені рекомендації по вибору устаткування і режими його роботи. Today, method of EBSD in a scanning electron microscope is used in various areas of research: in the metal, aerospace, nuclear, automotive industry, microelectronics, basic science. The quality of the sample surface is very essential for the method application. Equipment and methods of preparation from manufacturer of laboratory equipment Struers (Denmark) help to solve this problem and provide quality of sample polished surface. The paper describes main stages of sample preparation and gives recommendations on the choice of equipment and its operation modes. 2013 Article Подготовка образцов металлов и сплавов на основе железа для исследования на растровом электронном микроскопе методом дифракции отраженных электронов / Е.В. Верцанова // Наука та інновації. — 2013. — Т. 9, № 2. — С. 72-76. — рос. 1815-2066 DOI: doi.org/10.15407/scin9.02.072 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/116255 ru Наука та інновації Видавничий дім "Академперіодика" НАН України
institution	Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection	DSpace DC
language	Russian
topic	Світ інновацій Світ інновацій
spellingShingle	Світ інновацій Світ інновацій Верцанова, Е.В. Подготовка образцов металлов и сплавов на основе железа для исследования на растровом электронном микроскопе методом дифракции отраженных электронов Наука та інновації
description	Метод дифракции отраженных электронов на растровом электронном микроскопе сегодня применяется в различных областях исследования: в металлообрабатывающей промышленности, аэрокосмической отрасли, атомной, автомобильной, микроэлектронной промышленности и научных исследованиях. При использовании этого метода важным является качество подготовки поверхности образца. Оборудование и методики производителя лабораторного оборудования Struers (Дания) для пробоподготовки помогут исследователю решить эту проблему и обеспечить качественную полированную поверхность образцов. В статье описаны основные этапы пробоподготовки и даны рекомендации по выбору оборудования и режимам его работы.
format	Article
author	Верцанова, Е.В.
author_facet	Верцанова, Е.В.
author_sort	Верцанова, Е.В.
title	Подготовка образцов металлов и сплавов на основе железа для исследования на растровом электронном микроскопе методом дифракции отраженных электронов
title_short	Подготовка образцов металлов и сплавов на основе железа для исследования на растровом электронном микроскопе методом дифракции отраженных электронов
title_full	Подготовка образцов металлов и сплавов на основе железа для исследования на растровом электронном микроскопе методом дифракции отраженных электронов
title_fullStr	Подготовка образцов металлов и сплавов на основе железа для исследования на растровом электронном микроскопе методом дифракции отраженных электронов
title_full_unstemmed	Подготовка образцов металлов и сплавов на основе железа для исследования на растровом электронном микроскопе методом дифракции отраженных электронов
title_sort	подготовка образцов металлов и сплавов на основе железа для исследования на растровом электронном микроскопе методом дифракции отраженных электронов
publisher	Видавничий дім "Академперіодика" НАН України
publishDate	2013
topic_facet	Світ інновацій
url	http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/116255
citation_txt	Подготовка образцов металлов и сплавов на основе железа для исследования на растровом электронном микроскопе методом дифракции отраженных электронов / Е.В. Верцанова // Наука та інновації. — 2013. — Т. 9, № 2. — С. 72-76. — рос.
series	Наука та інновації
work_keys_str_mv	AT vercanovaev podgotovkaobrazcovmetallovisplavovnaosnoveželezadlâissledovaniânarastrovomélektronnommikroskopemetodomdifrakciiotražennyhélektronov
first_indexed	2023-10-18T20:27:13Z
last_indexed	2023-10-18T20:27:13Z
_version_	1796150234772930560

Подготовка образцов металлов и сплавов на основе железа для исследования на растровом электронном микроскопе методом дифракции отраженных электронов

Репозиторії

Схожі ресурси