Подготовка образцов металлов и сплавов на основе железа для исследования на растровом электронном микроскопе методом дифракции отраженных электронов
Метод дифракции отраженных электронов на растровом электронном микроскопе сегодня применяется в различных областях исследования: в металлообрабатывающей промышленности, аэрокосмической отрасли, атомной, автомобильной, микроэлектронной промышленности и научных исследованиях. При использовании этого...
Збережено в:
Дата: | 2013 |
---|---|
Автор: | Верцанова, Е.В. |
Формат: | Стаття |
Мова: | Russian |
Опубліковано: |
Видавничий дім "Академперіодика" НАН України
2013
|
Назва видання: | Наука та інновації |
Теми: | |
Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/116255 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
Цитувати: | Подготовка образцов металлов и сплавов на основе железа для исследования на растровом электронном микроскопе методом дифракции отраженных электронов / Е.В. Верцанова // Наука та інновації. — 2013. — Т. 9, № 2. — С. 72-76. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineСхожі ресурси
-
Подготовка образцов для просвечивающей и сканирующей электронной микроскопии: новые установки от Leica Microsystems для нанесения покрытий
за авторством: Немова, С.В.
Опубліковано: (2014) -
Механическая подготовка объектов для электронно-микроскопических исследований
за авторством: Фирстов, С.А., та інші
Опубліковано: (2012) -
Решение научно-исследовательских задач с помощью настольного сканирующего электронного микроскопа Phenom ProX
за авторством: Верцанова, Е.В.
Опубліковано: (2014) -
Новые предложения компании STRUERS для материаловедческих лабораторий
за авторством: Верцанова, Е.В.
Опубліковано: (2012) -
Механизмы влияния стандартизации на инновации
за авторством: Гринев, Б.В., та інші
Опубліковано: (2014)