2025-02-23T15:19:06-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: Query fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-116719%22&qt=morelikethis&rows=5
2025-02-23T15:19:06-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: => GET http://localhost:8983/solr/biblio/select?fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-116719%22&qt=morelikethis&rows=5
2025-02-23T15:19:06-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: <= 200 OK
2025-02-23T15:19:06-05:00 DEBUG: Deserialized SOLR response

Деградация контакта Шоттки при термическом отжиге

Исследован процесс деградации контакта Шоттки NbN–GaAs методом измерения спектральных характеристик латеральной фотоЭДС. Результаты позволяют установить закономерную связь между формой спектральных кривых, концентрацией азота в пленке NbN и температурой отжига образцов. Показано, что после отжига пр...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Main Authors: Венгер, Е.Ф., Готовы, И., Шеховцов, Л.В.
Format: Article
Language:Russian
Published: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2012
Series:Оптоэлектроника и полупроводниковая техника
Online Access:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/116719
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!