2025-02-23T15:09:30-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: Query fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-116724%22&qt=morelikethis&rows=5
2025-02-23T15:09:30-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: => GET http://localhost:8983/solr/biblio/select?fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-116724%22&qt=morelikethis&rows=5
2025-02-23T15:09:30-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: <= 200 OK
2025-02-23T15:09:30-05:00 DEBUG: Deserialized SOLR response
Механизмы формирования контактного сопротивления в омических контактах с большой плотностью дислокаций (обзор)

Механизмы формирования контактного сопротивления в омических контактах с большой плотностью дислокаций (обзор)

Обобщен цикл экспериментальных и теоретических исследований температурных зависимостей удельного контактного сопротивления ρс(Т) омических контактов к широкозонным полупроводникам А3В5 и к кремнию с учетом атермического воздействия микроволнового излучения. На основе теоретического анализа ρс(Т) пре...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Main Authors: Саченко, А.В., Беляев, А.Е., Болтовец, Н.С., Конакова, Р.В., Шеремет, В.Н.
Format: Article
Language:Russian
Published: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2013
Series:Оптоэлектроника и полупроводниковая техника
Online Access:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/116724
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!

Similar Items

2025-02-23T15:09:30-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: Query fl=%2A&rows=40&rows=5&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-116724%22&qt=morelikethis
2025-02-23T15:09:30-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: => GET http://localhost:8983/solr/biblio/select?fl=%2A&rows=40&rows=5&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-116724%22&qt=morelikethis
2025-02-23T15:09:30-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: <= 200 OK
2025-02-23T15:09:30-05:00 DEBUG: Deserialized SOLR response

Similar Items