Структура твердых фаз SiH₄

• Видавець: Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
• Дата: 2008
• Автори: Прохватилов, А.И., Гальцов, Н.Н., Клименко, Н.А., Стржемечный, М.А.
• Формат: Стаття
• Мова: Russian
• Опубліковано: Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України 2008
• Назва видання: Физика низких температур
• Теми: Динамика кристаллической решетки
• Онлайн доступ: http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/116815

Проведены рентгеновские исследования поликристаллических образцов моносилана SiH₄ в области существования низкотемпературной и высокотемпературной фаз с использованием фото- и дифрактометрического методов. Установлено, что элементарные ячейки обеих фаз имеют моноклинную симметрию. Фазовый переход низкотемпературной фазы в высокотемпературную фазу сопровождается заметным скачком объема ∆ V /V= 1,9% и изменением числа молекул в ячейке от 4 до 32. Элементарная ячейка в низкотемпературной фазе (при T = 6 К) имеет параметры α = (8,198± 0,002) Å , b= (4,601± 0,001) Å , c = ( 7,364±0,002) Å , β = (90,32± 0,08)°, объем V = 41,85см³ /моль и плотность (0,78± 0,05) г/см³. Высокотемпературная фаза существенно ориентационно разупорядочена, содержит Z = 32 молекулы в ячейке и имеет параметры a= (13,660± 0,003)Å , b = (12,767± 0,003)Å , c =(13,333± 0,003)Å , β = ( 93,66± 0,06) °, объем V = 43, 67см³ /моль и плотность 0,735 г/см³ при T = 65 К. Проведено сравнение структурных и ряда физических характеристик силана с соответствующими свойствами других кристаллов, образованных тетраэдрическими молекулами.