Особенности температурных и магнитополевых зависимостей критической плотности тока вблизи критической температуры в тонких пленках YBa₂Cu₃O₇₋δ

• Дата: 2010
• Автори: Ковальчук, Д.Г., Черноморец, М.П., Рябченко, С.М., Пашицкий, Э.А., Семенов, А.В.
• Формат: Стаття
• Мова: Russian
• Опубліковано: Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України 2010
• Назва видання: Физика низких температур
• Теми: Вихревая материя в сверхпроводниках
• Онлайн доступ: http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/116837
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Цитувати: Особенности температурных и магнитополевых зависимостей критической плотности тока вблизи критической температуры в тонких пленках YBa₂Cu₃O₇₋δ / Д.Г. Ковальчук, М.П. Черноморец, С.М. Рябченко, Э.А. Пашицкий, А.В. Семенов // Физика низких температур. — 2010. — Т. 36, № 1. — С. 101-114. — Бібліогр.: 32 назв. — рос.

Методом динамической магнитной восприимчивости исследована температурная зависимость критической плотности сверхпроводящего тока jc(τ) (τ=(1-T/Tc), Tc — критическая температура) двух тонких эпитаксиальных c -ориентированных пленок YBa₂Cu₃O₇₋δ, выращенных на подложках LaAlO₃ и SrTiO₃. В обоихобразцах в области температур от 77 К до Tc зависимость jc(τ) имеет два участка со степенными зависимостями jc~τ³/² и jc~τ² с кроссовером между ними. Проведены измерения температурных зависимостей динамической скорости релаксации Q(τ) (крипа магнитного потока), которые оказались несвязанными с наблюдаемыми кроссоверами. Показано, что наблюдаемые особенности jc(τ) не обусловлены ограничением плотности критического тока распаривания в междислокационных промежутках межблочных границ тонких эпитаксиальных пленок YBa₂Cu₃O₇₋δ, как это предполагалось ранее. На основании численных расчетов показано, что существование кроссоверов и обнаруженного в одном из образцов нарушения H/τ -скейлинга (H — постоянное магнитное поле) в магнитополевых зависимостях jc(τ,H) вблизи Tc можно объяснить проявлением макроскопической неоднородности образцов по локальным значениям критической температуры Tc (Tc -неоднородность). Отсутствие наблюдаемого нарушения H/τ -скейлинга во втором образце объяснено меньшей шириной распределения по Tc в нем по сравнению с первым образцом.