Электронное допирование NbSe₂
Методами рентгеновской и электронной дифрактометрии исследовано влияние облучения быстрыми электронами на свойства диселенида ниобия гексагональной модификации 2H-NbSe₂. Обнаруженные изменения дифрактограмм объясняются перераспределением электронной плотности при облучении, а именно ее увеличением в...
Збережено в:
| Дата: | 2009 |
|---|---|
| Автори: | , , , , , , , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Russian |
| Опубліковано: |
Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
2009
|
| Назва видання: | Физика низких температур |
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/117172 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Электронное допирование NbSe₂ / В.В. Еременко, В.В. Ибулаев, В.А. Сиренко, М.Ю. Шведун, Л.М. Куликов, Ю.Т. Петрусенко, В.М. Борисенко, А.Н. Астахов, Д.Ю. Баранков // Физика низких температур. — 2009. — Т. 35, № 5. — С. 545-548. — Бібліогр.: 9 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
irk-123456789-117172 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
irk-123456789-1171722017-05-21T03:02:40Z Электронное допирование NbSe₂ Еременко, В.В. Ибулаев, В.В. Сиренко, В.А. Шведун, М.Ю. Куликов, Л.М. Петрусенко, Ю.Т. Борисенко, В.М. Астахов, А.Н. Баранков, Д.Ю. Кpаткие сообщения Методами рентгеновской и электронной дифрактометрии исследовано влияние облучения быстрыми электронами на свойства диселенида ниобия гексагональной модификации 2H-NbSe₂. Обнаруженные изменения дифрактограмм объясняются перераспределением электронной плотности при облучении, а именно ее увеличением в плоскостях с большой плотностью упаковки - базисных и призматических - {110}, {210}. Появление диффузного рассеяния рентгеновских лучей и электронов при больших дозах облучения связывается с ростом плотности электронной ферми-жидкости. Методами рентгенівської та електронної дифрактометрії досліджено вплив опромінення швидкими електронами на властивості діселеніду ніобію гексагональної модифікації 2H-NbSe₂. Виявлені зміни дифрактограм пояснюються перерозподілом електронної густини при опроміненні, а саме її збільшенням в площинах з великою щільністю упаковки — базисних та призматичних — {110}, {210}. Поява дифузного розсіювання рентгенівських променів і електронів при великих дозах опромінення зв’язується зі зростанням щільності електронної фермі-рідини. The influence of fast electrons irradiation on hexagonal niobium diselenid 2H-NbSe₂ has been studied by the methods of x-ray and electron diffraction. Detected changes on diffraction patterns are attributed to redistribution of electron density under irradiation, notably it increases in the planes with close packing — basal and prismatic — {110} and {210}. The appearance of x-rays and electrons diffuse scattering under high radiation doses is associated with increasing of the electronic Fermi-liquid density. 2009 Article Электронное допирование NbSe₂ / В.В. Еременко, В.В. Ибулаев, В.А. Сиренко, М.Ю. Шведун, Л.М. Куликов, Ю.Т. Петрусенко, В.М. Борисенко, А.Н. Астахов, Д.Ю. Баранков // Физика низких температур. — 2009. — Т. 35, № 5. — С. 545-548. — Бібліогр.: 9 назв. — рос. 0132-6414 PACS: 72.10.-d, 74.25.Jb. http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/117172 ru Физика низких температур Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| language |
Russian |
| topic |
Кpаткие сообщения Кpаткие сообщения |
| spellingShingle |
Кpаткие сообщения Кpаткие сообщения Еременко, В.В. Ибулаев, В.В. Сиренко, В.А. Шведун, М.Ю. Куликов, Л.М. Петрусенко, Ю.Т. Борисенко, В.М. Астахов, А.Н. Баранков, Д.Ю. Электронное допирование NbSe₂ Физика низких температур |
| description |
Методами рентгеновской и электронной дифрактометрии исследовано влияние облучения быстрыми электронами на свойства диселенида ниобия гексагональной модификации 2H-NbSe₂. Обнаруженные изменения дифрактограмм объясняются перераспределением электронной плотности при облучении, а именно ее увеличением в плоскостях с большой плотностью упаковки - базисных и призматических - {110}, {210}. Появление диффузного рассеяния рентгеновских лучей и электронов при больших дозах облучения связывается с ростом плотности электронной ферми-жидкости. |
| format |
Article |
| author |
Еременко, В.В. Ибулаев, В.В. Сиренко, В.А. Шведун, М.Ю. Куликов, Л.М. Петрусенко, Ю.Т. Борисенко, В.М. Астахов, А.Н. Баранков, Д.Ю. |
| author_facet |
Еременко, В.В. Ибулаев, В.В. Сиренко, В.А. Шведун, М.Ю. Куликов, Л.М. Петрусенко, Ю.Т. Борисенко, В.М. Астахов, А.Н. Баранков, Д.Ю. |
| author_sort |
Еременко, В.В. |
| title |
Электронное допирование NbSe₂ |
| title_short |
Электронное допирование NbSe₂ |
| title_full |
Электронное допирование NbSe₂ |
| title_fullStr |
Электронное допирование NbSe₂ |
| title_full_unstemmed |
Электронное допирование NbSe₂ |
| title_sort |
электронное допирование nbse₂ |
| publisher |
Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України |
| publishDate |
2009 |
| topic_facet |
Кpаткие сообщения |
| url |
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/117172 |
| citation_txt |
Электронное допирование NbSe₂ / В.В. Еременко, В.В. Ибулаев, В.А. Сиренко, М.Ю. Шведун, Л.М. Куликов, Ю.Т. Петрусенко, В.М. Борисенко, А.Н. Астахов, Д.Ю. Баранков // Физика низких температур. — 2009. — Т. 35, № 5. — С. 545-548. — Бібліогр.: 9 назв. — рос. |
| series |
Физика низких температур |
| work_keys_str_mv |
AT eremenkovv élektronnoedopirovanienbse2 AT ibulaevvv élektronnoedopirovanienbse2 AT sirenkova élektronnoedopirovanienbse2 AT švedunmû élektronnoedopirovanienbse2 AT kulikovlm élektronnoedopirovanienbse2 AT petrusenkoût élektronnoedopirovanienbse2 AT borisenkovm élektronnoedopirovanienbse2 AT astahovan élektronnoedopirovanienbse2 AT barankovdû élektronnoedopirovanienbse2 |
| first_indexed |
2023-10-18T20:29:11Z |
| last_indexed |
2023-10-18T20:29:11Z |
| _version_ |
1796150325797715968 |