Polarization analysis of birefringence in uniaxially deformed silicon crystals
The birefringence induced by uniaxial compression in low-doped silicon crystals was investigated both theoretically and experimentally. The circular components of the Stokes vector in the transmission and reflectance radiation are measured as a function of external pressure by using the method ba...
Збережено в:
| Дата: | 2007 |
|---|---|
| Автори: | , , , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English |
| Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2007
|
| Назва видання: | Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/117773 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Polarization analysis of birefringence in uniaxially deformed silicon crystals / L.I. Berezhinsky, I.L. Berezhinsky, V.I. Pipa, I.Ye. Matyash, B.K. Serdega // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2007. — Т. 10, № 1. — С. 49-54. — Бібліогр.: 12 назв. — англ. |