Data acquisition, parameter extraction and characterization of active components using integrated instrumentation system
A data acquisition, parameter extraction and characterization system for electronic active components is presented in this paper. High sensitivity measuring equipments were used for data acquisition and effective extraction models based on optimization techniques developed to obtain the parameter...
Збережено в:
| Видавець: | Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
|---|---|
| Дата: | 2009 |
| Автори: | , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English |
| Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2009
|
| Назва видання: | Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/118694 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Цитувати: | Data acquisition, parameter extraction and characterization of active components using integrated instrumentation system / H. Bourdoucen and A. Zitouni // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2009. — Т. 12, № 2. — С. 178-186. — Бібліогр.: 17 назв. — англ. |