Thin films of organic molecular crystals (OMC) possessing type B lattice: spatial structure of dibenzotetraazaannulene film is related to its thickness
Diffractometric and optical measurements showed that at considerable (>200 oK) difference between sublimation temperature and substrate one dibenzotetraazaannulene forms well oriented films structure of which depends on their thickness. This phenomena was explained by assuming that the temperatur...
Збережено в:
Дата: | 1999 |
---|---|
Автори: | Snopok, B.A., Lampeka, Ya.D. |
Формат: | Стаття |
Мова: | English |
Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
1999
|
Назва видання: | Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics |
Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/119863 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
Цитувати: | Thin films of organic molecular crystals (OMC) possessing type B lattice: spatial structure of dibenzotetraazaannulene film is related to its thickness / B.A. Snopok, Ya.D. Lampeka // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 1999. — Т. 2, № 2. — С. 69-72. — Бібліогр.: 12 назв. — англ. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineСхожі ресурси
-
Dependence of electrical conductivity on Bi₂Se₃ thin film thickness
за авторством: Menshikova, S.I., та інші
Опубліковано: (2017) -
Selective unequal-thickness thin-film filters for IR spectral region
за авторством: Yaremchuk, I.Ya., та інші
Опубліковано: (2008) -
Equilibrium helium film in the thick film limit
за авторством: Klier, J., та інші
Опубліковано: (2003) -
Spatial characterization of the edge barrier in wide superconducting thin films
за авторством: A. G. Sivakov, та інші
Опубліковано: (2018) -
Dielectric, ferroelectric and piezoelectric properties of sputtered PZT thin films on Si substrates: influence of film thickness and orientation
за авторством: Haccart, T., та інші
Опубліковано: (2002)