Size dependence of magnetic characteristics measured on separate nickel particles

Interference electron microscopy was applied to measure the coercive force, the magnetic saturation and the residual magnetization of separated nickel particles. Nickel particles with perfect sphericity and radius from 10 to 100 nm were produced directly in the interference electron microscope by me...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:1999
Автори: Nepijko, S.A., Wiesendanger, R.
Формат: Стаття
Мова:English
Опубліковано: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 1999
Назва видання:Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/119880
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Size dependence of magnetic characteristics measured on separate nickel particles / S.A. Nepijko, R. Wiesendanger // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 1999. — Т. 2, № 3. — С. 5-9. — Бібліогр.: 24 назв. — англ.

Репозиторії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine