Локальные колебания в кристаллических решетках с односвязной областью квазинепрерывного фононного спектра

Показано, что использование классификации колебаний, принятой в методе якобиевых матриц и являющейся наиболее естественной для описания локализованных состояний, приводит к чрезвычайно быстрой сходимости функций Грина для частот, расположенных вне полосы квазинепрерывного спектра кристалла. Это поз...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2006
Автори: Котляр, А.В., Феодосьев, С.Б.
Формат: Стаття
Мова:Russian
Опубліковано: Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України 2006
Назва видання:Физика низких температур
Теми:
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/120149
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Локальные колебания в кристаллических решетках с односвязной областью квазинепрерывного фононного спектра / А.В. Котляр, С.Б. Феодосьев // Физика низких температур. — 2006. — Т. 32, № 3. — С. 343–359. — Бібліогр.: 37 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Опис
Резюме:Показано, что использование классификации колебаний, принятой в методе якобиевых матриц и являющейся наиболее естественной для описания локализованных состояний, приводит к чрезвычайно быстрой сходимости функций Грина для частот, расположенных вне полосы квазинепрерывного спектра кристалла. Это позволило получить достаточно общие аналитические выражения для условий образования и характеристик локальных колебаний, обусловленных наличием легких примесных атомов в кристалличесой решетке, область квазинепрерывного фононного спектра которой односвязна. Точность определения с помощью данных выражений частот и интенсивностей локальных колебаний проиллюстрирована на примерах легких примесей замещения (изотопических и слабосвязанных) в плотноупакованных структурах (ГЦК и ГПУ), а также изолированных пар изотопических примесей в ГЦК кристаллической решетке. Полученные результаты могут, в частности, быть использованы для простого и весьма точного вычисления параметров основной решетки и дефекта по известным величинам локальных частот.