Локальные колебания в кристаллических решетках с односвязной областью квазинепрерывного фононного спектра
Показано, что использование классификации колебаний, принятой в методе якобиевых матриц и являющейся наиболее естественной для описания локализованных состояний, приводит к чрезвычайно быстрой сходимости функций Грина для частот, расположенных вне полосы квазинепрерывного спектра кристалла. Это поз...
Збережено в:
Дата: | 2006 |
---|---|
Автори: | , |
Формат: | Стаття |
Мова: | Russian |
Опубліковано: |
Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
2006
|
Назва видання: | Физика низких температур |
Теми: | |
Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/120149 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
Цитувати: | Локальные колебания в кристаллических решетках с односвязной областью квазинепрерывного фононного спектра / А.В. Котляр, С.Б. Феодосьев // Физика низких температур. — 2006. — Т. 32, № 3. — С. 343–359. — Бібліогр.: 37 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineРезюме: | Показано, что использование классификации колебаний, принятой в методе якобиевых матриц и являющейся наиболее естественной для описания локализованных состояний, приводит к
чрезвычайно быстрой сходимости функций Грина для частот, расположенных вне полосы квазинепрерывного спектра кристалла. Это позволило получить достаточно общие аналитические выражения для условий образования и характеристик локальных колебаний, обусловленных наличием легких примесных атомов в кристалличесой решетке, область квазинепрерывного
фононного спектра которой односвязна. Точность определения с помощью данных выражений
частот и интенсивностей локальных колебаний проиллюстрирована на примерах легких примесей замещения (изотопических и слабосвязанных) в плотноупакованных структурах (ГЦК и
ГПУ), а также изолированных пар изотопических примесей в ГЦК кристаллической решетке.
Полученные результаты могут, в частности, быть использованы для простого и весьма точного
вычисления параметров основной решетки и дефекта по известным величинам локальных частот. |
---|