Residual error after non-uniformity correction
The paper represents the technique for residual error evaluation after two-points linear non-uniformity correction. This technique takes into consideration parameters of an imaging system, reference sources, non-linearity and noise of a focal plane array.
Збережено в:
| Дата: | 2000 |
|---|---|
| Автор: | |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English |
| Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2000
|
| Назва видання: | Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/120229 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Residual error after non-uniformity correction / V.N. Borovytsky // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2000. — Т. 3, № 1. — С. 102-105. — Бібліогр.: 4 назв. — англ. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| Резюме: | The paper represents the technique for residual error evaluation after two-points linear non-uniformity correction. This technique takes into consideration parameters of an imaging system, reference sources, non-linearity and noise of a focal plane array. |
|---|