Hysteretic phenomena in Xe-doped C₆₀ from x-ray diffraction

• Видавець: Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
• Дата: 2005
• Автори: Prokhvatilov, A.I., Galtsov, N.N., Legchenkova, I.V., Strzhemechny, M.A., Cassidy, D., Gadd, G.E., Moricca, S., Sundqvist, B., Aksenova, N.A.
• Формат: Стаття
• Мова: English
• Опубліковано: Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України 2005
• Назва видання: Физика низких температур
• Теми: Динамика кристаллической решетки
• Онлайн доступ: http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/121465
• Цитувати: Hysteretic phenomena in Xe-doped C₆₀ from x-ray diffraction / A.I. Prokhvatilov, N.N. Galtsov, I.V. Legchenkova, M. A. Strzhemechny, D. Cassidy, G.E. Gadd, S. Moricca, B. Sundqvist, N.A. Aksenova // Физика низких температур. — 2005. — Т. 31, № 5. — С. 585-589. — Бібліогр.: 27 назв. — англ.

Polycrystalline fullerite С₆₀ intercalated with Xe atoms at 575 K and a pressure of 200 MPa was studied by powder x-ray diffraction. The integrated intensities of a few brighter reflections have been utilized to evaluate the occupancy of the octahedral interstitial sites in С₆₀ crystals, which turne...