Structural, electrical and optical investigations of Cu₆PS₅Br-based thin film deposited by HiTUS technique
Cu₆.₃₅P₁.₇₇S₄.₇₂Br₀.₁₅ thin film was obtained using the high target utilization sputtering onto c-cut sapphire substrates. X-ray diffraction studies show the film to be amorphous with some crystalline inclusions. SEM investigations indicate formation of periodical “forest-like” quasi-two-dimensional...
Збережено в:
Дата: | 2016 |
---|---|
Автори: | , , , , , , |
Формат: | Стаття |
Мова: | English |
Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2016
|
Назва видання: | Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics |
Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/121605 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
Цитувати: | Structural, electrical and optical investigations of Cu₆PS₅Br-based thin film deposited by HiTUS technique / I.P. Studenyak, M.M. Kutsyk, V.I. Studenyak, A.V. Bendak, V.Yu. Izai, P. Kúš, M. Mikula // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2016. — Т. 19, № 3. — С. 307-310. — Бібліогр.: 12 назв. — англ. |