Зависимость возмущений электрического поля в диэлектрике от дисперсности близко расположенных водных микровключений

Определены закономерности возмущения электрического поля в диэлектрике в зависимости от дисперсности его близко расположенных водных микровключений. Выявлено, что дробление микровключений (т.е. увеличение их количества при неизменном суммарном объеме) увеличивает напряженный объем диэлектрика. К уве...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Видавець:Інститут електродинаміки НАН України
Дата:2014
Автори: Щерба, М.А., Розискулов, С.С., Васильева, О.В.
Формат: Стаття
Мова:Russian
Опубліковано: Інститут електродинаміки НАН України 2014
Назва видання:Технічна електродинаміка
Теми:
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/121872
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Цитувати:Зависимость возмущений электрического поля в диэлектрике от дисперсности близко расположенных водных микровключений / М.А. Щерба, С.С. Розискулов, О.В. Васильева // Технічна електродинаміка. — 2014. — № 4. — С. 17-19. — Бібліогр.: 5 назв. — рос.

Репозиторії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Опис
Резюме:Определены закономерности возмущения электрического поля в диэлектрике в зависимости от дисперсности его близко расположенных водных микровключений. Выявлено, что дробление микровключений (т.е. увеличение их количества при неизменном суммарном объеме) увеличивает напряженный объем диэлектрика. К увеличению напряженного объема может приводить также изменение конфигурации как совокупности ("облака") близко расположенных включений, так и каждого включения по отдельности. В частности, увеличение напряженного объема диэлектрика происходит при вытягивании водных микровключений и уменьшении расстояний между ними. Наибольшее возмущение электрического поля возникает при объединении вытянутых включений в одну проводящую структуру вдоль поля. Таким образом, показано, что для твердого диэлектрика появление совокупности мелких водных включений с точки зрения деградации его структуры является более опасным, чем нескольких крупных.