2025-02-23T13:19:54-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: Query fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-122690%22&qt=morelikethis&rows=5
2025-02-23T13:19:54-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: => GET http://localhost:8983/solr/biblio/select?fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-122690%22&qt=morelikethis&rows=5
2025-02-23T13:19:54-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: <= 200 OK
2025-02-23T13:19:54-05:00 DEBUG: Deserialized SOLR response
Микроскоп МКИ-2М

Микроскоп МКИ-2М

Предназначен для использования в технологическом процессе при производстве изделий электронной техники для контроля дефектов структур интегральных микросхем на фотошаблонах и полупроводниковых пластинах. Может применяться для исследования фотошаблонов и полупроводниковых пластин в светлом и темном п...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Format: Article
Language:Russian
Published: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 1999
Series:Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Subjects:
Научно-промышленные центры СНГ
Online Access:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/122690
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Description
Summary:Предназначен для использования в технологическом процессе при производстве изделий электронной техники для контроля дефектов структур интегральных микросхем на фотошаблонах и полупроводниковых пластинах. Может применяться для исследования фотошаблонов и полупроводниковых пластин в светлом и темном поле отраженного света при разработке технологических процессов, в лабораторной практике и для массовых контрольных операций внешнего вида изделий при производстве ИС.

Similar Items