Микроскоп МКИ-2М
Предназначен для использования в технологическом процессе при производстве изделий электронной техники для контроля дефектов структур интегральных микросхем на фотошаблонах и полупроводниковых пластинах. Может применяться для исследования фотошаблонов и полупроводниковых пластин в светлом и темном п...
Збережено в:
Дата: | 1999 |
---|---|
Формат: | Стаття |
Мова: | Russian |
Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
1999
|
Назва видання: | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
Теми: | |
Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/122690 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
Цитувати: | Микроскоп МКИ-2М // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 1999. — № 1. — С. 30. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineСхожі ресурси
-
Установка предварительной настройки кварцевых резонаторов ЭМ-6310
за авторством: Сасин, М.К., та інші
Опубліковано: (1999) -
Широкоформатная система экспонирования ЭМ-5034
Опубліковано: (1999) -
ГНПП «КБТЭМ-СО» — официальный дилер немецкого филиала фирмы SМС в Республике Беларусь
за авторством: Волков, А.С.
Опубліковано: (1999) -
Установка ремонта топологии на фотошаблонах ЭМ-5001АМ
Опубліковано: (1999) -
Львовское Научно-производственное предприятие "Карат"
Опубліковано: (1998)