Установка ремонта топологии на фотошаблонах ЭМ-5001АМ
Предназначена для ремонта и устранения дефектов фотошаблонов, используемых в производстве ИС, ГИС и полупроводниковых приборов. Устранение непрозрачных дефектов осуществляется путем воздействия сфокусированного лазерного излучения на маскирующее покрытие фотошаблона, устранение прозрачных дефектов —...
Збережено в:
Дата: | 1999 |
---|---|
Формат: | Стаття |
Мова: | Russian |
Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
1999
|
Назва видання: | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
Теми: | |
Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/122692 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
Цитувати: | Установка ремонта топологии на фотошаблонах ЭМ-5001АМ // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 1999. — № 1. — С. 38. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraineid |
irk-123456789-122692 |
---|---|
record_format |
dspace |
spelling |
irk-123456789-1226922017-07-18T03:03:21Z Установка ремонта топологии на фотошаблонах ЭМ-5001АМ Научно-промышленные центры СНГ Предназначена для ремонта и устранения дефектов фотошаблонов, используемых в производстве ИС, ГИС и полупроводниковых приборов. Устранение непрозрачных дефектов осуществляется путем воздействия сфокусированного лазерного излучения на маскирующее покрытие фотошаблона, устранение прозрачных дефектов — путем лазерно-стимулированного осаждения металлоорганического соединения. 1999 Article Установка ремонта топологии на фотошаблонах ЭМ-5001АМ // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 1999. — № 1. — С. 38. — рос. 2225-5818 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/122692 ru Технология и конструирование в электронной аппаратуре Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
collection |
DSpace DC |
language |
Russian |
topic |
Научно-промышленные центры СНГ Научно-промышленные центры СНГ |
spellingShingle |
Научно-промышленные центры СНГ Научно-промышленные центры СНГ Установка ремонта топологии на фотошаблонах ЭМ-5001АМ Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
description |
Предназначена для ремонта и устранения дефектов фотошаблонов, используемых в производстве ИС, ГИС и полупроводниковых приборов. Устранение непрозрачных дефектов осуществляется путем воздействия сфокусированного лазерного излучения на маскирующее покрытие фотошаблона, устранение прозрачных дефектов — путем лазерно-стимулированного осаждения металлоорганического соединения. |
format |
Article |
title |
Установка ремонта топологии на фотошаблонах ЭМ-5001АМ |
title_short |
Установка ремонта топологии на фотошаблонах ЭМ-5001АМ |
title_full |
Установка ремонта топологии на фотошаблонах ЭМ-5001АМ |
title_fullStr |
Установка ремонта топологии на фотошаблонах ЭМ-5001АМ |
title_full_unstemmed |
Установка ремонта топологии на фотошаблонах ЭМ-5001АМ |
title_sort |
установка ремонта топологии на фотошаблонах эм-5001ам |
publisher |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
publishDate |
1999 |
topic_facet |
Научно-промышленные центры СНГ |
url |
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/122692 |
citation_txt |
Установка ремонта топологии на фотошаблонах ЭМ-5001АМ // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 1999. — № 1. — С. 38. — рос. |
series |
Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
first_indexed |
2023-10-18T20:42:24Z |
last_indexed |
2023-10-18T20:42:24Z |
_version_ |
1796150898700845056 |