Корреляция значений фрактальных характеристик структуры материала по электронно-микроскопическим фотографиям поверхности образцов со значениями их физико-механических характеристик
На основе методов мультифрактального формализма построен алгоритм определения фрактальных характеристик двумерных изображений структур материалов. Приведен интерфейс пользователя компьютерной программы для определения упомянутых характеристик. Проведена обработка изображений структуры материалов; по...
Збережено в:
Дата: | 2016 |
---|---|
Автори: | Красикова, И.Е., Красиков, И.В., Картузов, В.В. |
Формат: | Стаття |
Мова: | Russian |
Опубліковано: |
Інститут проблем матеріалознавства ім. І.М. Францевича НАН України
2016
|
Назва видання: | Электронная микроскопия и прочность материалов |
Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/125899 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
Цитувати: | Корреляция значений фрактальных характеристик структуры материала по электронно-микроскопическим фотографиям поверхности образцов со значениями их физико-механических характеристик / И.Е. Красикова, И.В. Красиков, В.В. Картузов // Электронная микроскопия и прочность материалов: Сб. научн . тр. — К.: ІПМ НАН України, 2016. — Вип. 22. — С. 3-9. — Бібліогр.: 18 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineСхожі ресурси
-
Об одном способе определения связей между критическими значениями характеристик процесса установившегося разделения материала
за авторством: Глаголев, В.В., та інші
Опубліковано: (2006) -
К методике определения механических характеристик материалов при испытании образцов на растяжение при повышенных температурах
за авторством: Филатов, В.Э., та інші
Опубліковано: (2017) -
Сравнительное тестирование механических характеристик наноалмазных пленок
за авторством: Куцай, А.М.
Опубліковано: (2007) -
Метод выделения областей на изображениях с использованием фрактальных и текстурных характеристик снимков высокого разрешения
за авторством: Ганченко, В., та інші
Опубліковано: (2009) -
Определение допустимых значений характеристик материалов при проектировании РЭА
за авторством: Шайко-Шайковский, А.Г.
Опубліковано: (1998)