Оптические свойства и параметры кристаллической решетки твердых растворов TIGa₁₋xFexSe₂

Исследована система полупроводниковых твердых растворов TlGaSе₂–TlFeSe₂. Рентгеноструктурный анализ позволил установить параметры кристаллической решетки соединений данной системы. В температурном интервале 10–120 К проведены экспериментальные исследования спектров поглощения монокристаллов тверды...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Видавець:Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
Дата:2007
Автори: Гасанов, Н.З., Керимова, Э.М., Гасанов, А.И., Асадов, Ю.Г.
Формат: Стаття
Мова:Russian
Опубліковано: Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України 2007
Назва видання:Физика низких температур
Теми:
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/127507
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Цитувати:Оптические свойства и параметры кристаллической решетки твердых растворов TIGa₁₋xFexSe₂ / Н.З. Гасанов, Э.М. Керимова, А.И. Гасанов, Ю.Г. Асадов // Физика низких температур. — 2007. — Т. 33, № 1. — С. 115-118. — Бібліогр.: 8 назв. — рос.

Репозиторії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id irk-123456789-127507
record_format dspace
spelling irk-123456789-1275072017-12-24T03:03:15Z Оптические свойства и параметры кристаллической решетки твердых растворов TIGa₁₋xFexSe₂ Гасанов, Н.З. Керимова, Э.М. Гасанов, А.И. Асадов, Ю.Г. Электpонные свойства металлов и сплавов Исследована система полупроводниковых твердых растворов TlGaSе₂–TlFeSe₂. Рентгеноструктурный анализ позволил установить параметры кристаллической решетки соединений данной системы. В температурном интервале 10–120 К проведены экспериментальные исследования спектров поглощения монокристаллов твердых растворов TIGa₁₋xFexSe₂ (x = 0; 0,005; 0,01), определены энергетические положения и коэффициенты температурного сдвига экситонов на краю и в глубине оптического поглощения. Досліджено систему напівпровідникових твердих розчинів TlGaSе₂–TlFeSe₂. Рентгеноструктурний аналіз дозволив установити параметри кристалічної гратки сполук даної системи. У температурному інтервалі 10–120 К проведено експериментальні дослідження спектрів поглинання монокристалів твердих розчинів TIGa₁₋xFexSe₂ (x = 0; 0,005; 0,01), визначено енергетичні положення та коефіцієнти температурного зсування екситонів на краю й у глибині оптичного поглинання. The solid solutions of TlGaSе₂–TlFeSe₂ semiconductive system has been investigated. The x-ray diffraction analysis made it possible to estimate the crystal lattice parameters of this system compounds. The absorption spectra experimental measurements of TIGa₁₋xFexSe₂ single crystals (x = 0; 0.005; 0.01) were made at 10–120 K temperature interval. The level positions and the coefficients of temperature shift of excitons at the edge of and deep are optical absorption were determined. 2007 Article Оптические свойства и параметры кристаллической решетки твердых растворов TIGa₁₋xFexSe₂ / Н.З. Гасанов, Э.М. Керимова, А.И. Гасанов, Ю.Г. Асадов // Физика низких температур. — 2007. — Т. 33, № 1. — С. 115-118. — Бібліогр.: 8 назв. — рос. 0132-6414 PACS: 78.20.–e, 78.30.Fs http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/127507 ru Физика низких температур Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
language Russian
topic Электpонные свойства металлов и сплавов
Электpонные свойства металлов и сплавов
spellingShingle Электpонные свойства металлов и сплавов
Электpонные свойства металлов и сплавов
Гасанов, Н.З.
Керимова, Э.М.
Гасанов, А.И.
Асадов, Ю.Г.
Оптические свойства и параметры кристаллической решетки твердых растворов TIGa₁₋xFexSe₂
Физика низких температур
description Исследована система полупроводниковых твердых растворов TlGaSе₂–TlFeSe₂. Рентгеноструктурный анализ позволил установить параметры кристаллической решетки соединений данной системы. В температурном интервале 10–120 К проведены экспериментальные исследования спектров поглощения монокристаллов твердых растворов TIGa₁₋xFexSe₂ (x = 0; 0,005; 0,01), определены энергетические положения и коэффициенты температурного сдвига экситонов на краю и в глубине оптического поглощения.
format Article
author Гасанов, Н.З.
Керимова, Э.М.
Гасанов, А.И.
Асадов, Ю.Г.
author_facet Гасанов, Н.З.
Керимова, Э.М.
Гасанов, А.И.
Асадов, Ю.Г.
author_sort Гасанов, Н.З.
title Оптические свойства и параметры кристаллической решетки твердых растворов TIGa₁₋xFexSe₂
title_short Оптические свойства и параметры кристаллической решетки твердых растворов TIGa₁₋xFexSe₂
title_full Оптические свойства и параметры кристаллической решетки твердых растворов TIGa₁₋xFexSe₂
title_fullStr Оптические свойства и параметры кристаллической решетки твердых растворов TIGa₁₋xFexSe₂
title_full_unstemmed Оптические свойства и параметры кристаллической решетки твердых растворов TIGa₁₋xFexSe₂
title_sort оптические свойства и параметры кристаллической решетки твердых растворов tiga₁₋xfexse₂
publisher Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
publishDate 2007
topic_facet Электpонные свойства металлов и сплавов
url http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/127507
citation_txt Оптические свойства и параметры кристаллической решетки твердых растворов TIGa₁₋xFexSe₂ / Н.З. Гасанов, Э.М. Керимова, А.И. Гасанов, Ю.Г. Асадов // Физика низких температур. — 2007. — Т. 33, № 1. — С. 115-118. — Бібліогр.: 8 назв. — рос.
series Физика низких температур
work_keys_str_mv AT gasanovnz optičeskiesvojstvaiparametrykristalličeskojrešetkitverdyhrastvorovtiga1xfexse2
AT kerimovaém optičeskiesvojstvaiparametrykristalličeskojrešetkitverdyhrastvorovtiga1xfexse2
AT gasanovai optičeskiesvojstvaiparametrykristalličeskojrešetkitverdyhrastvorovtiga1xfexse2
AT asadovûg optičeskiesvojstvaiparametrykristalličeskojrešetkitverdyhrastvorovtiga1xfexse2
first_indexed 2023-10-18T20:53:14Z
last_indexed 2023-10-18T20:53:14Z
_version_ 1796151367049412608