Activation spectroscopy of electronically induced defects in solid Ne

Thermally stimulated luminescence (TSL) and thermally stimulated exoelectron emission (TSEE) methods were used in combination with cathodoluminescence to probe electronically induced defects in solid Ne. The defects were generated by a low energy electron beam. For spectroscopic study we used Ar* ce...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2003
Автори: Grigorashchenko, O.N., Rudenkov, V.V., Khizhnyi, I.V., Savchenko, E.V., Frankowski, M., Smith-Gicklhorn, A.M., Beyer, M.K., Bondybey, V.E.
Формат: Стаття
Мова:English
Опубліковано: Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України 2003
Назва видання:Физика низких температур
Теми:
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/128944
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Activation spectroscopy of electronically induced defects in solid Ne / O.N. Grigorashchenko, V.V. Rudenkov, I.V. Khizhnyi, E.V. Savchenko, M. Frankowski, A.M. Smith-Gicklhorn, M.K. Beyer, V.E. Bondybey // Физика низких температур. — 2003. — Т. 29, № 9-10. — С. 1147-1151. — Бібліогр.: 20 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

Схожі ресурси