Intrinsically shunted Josephson junctions for electronics applications

• Дата: 2017
• Автори: Belogolovskii, M., Zhitlukhina, E., Lacquaniti, V., De Leo, N., Fretto, M., Sosso, A.
• Формат: Стаття
• Мова: English
• Опубліковано: Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України 2017
• Назва видання: Физика низких температур
• Теми: Сверхпроводящие и мезоскопические структуры. К 70-летию со дня рождения А.Н. Омельянчука
• Онлайн доступ: http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/129526
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Цитувати: Intrinsically shunted Josephson junctions for electronics applications / M. Belogolovskii, E. Zhitlukhina, V. Lacquaniti, N. De Leo, M. Fretto, A. Sosso // Физика низких температур. — 2017. — Т. 43, № 7. — С. 950-961. — Бібліогр.: 75 назв. — англ.

Conventional Josephson metal-insulator-metal devices are inherently underdamped and exhibit hysteretic current -voltage response due to a very high subgap resistance compared to that in the normal state. At the same time, overdamped junctions with single-valued characteristics are needed for most su...