Бесконтактный метод измеpения плотности критических токов и диагностики сверхпроводников

• Дата: 2001
• Автор: Ростами, Х.Р.
• Формат: Стаття
• Мова: Russian
• Опубліковано: Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України 2001
• Назва видання: Физика низких температур
• Теми: Новые методы низкотемпературного эксперимента
• Онлайн доступ: http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/129542
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Цитувати: Бесконтактный метод измеpения плотности критических токов и диагностики сверхпроводников / Х.Р. Ростами // Физика низких температур. — 2001. — Т. 27, № 1. — С. 103-108. — Бібліогр.: 11 назв. — рос.

Исследована роль геометрического фактора сверхпроводящего (СП) образца при магнитных измерениях плотности критических токов Jc. Показано, что небольшое отличие формы образца от цилиндрической существенно не влияет на величину Jc. Обнаружено, что ошибка в оценке Jc монокристаллов при использовании известного выражения, определяющего Jc керамик, связана именно с низким уровнем плотности Btr захваченного магнитного потока (ЗМП) в монокристаллах по сравнению с керамиками. Предложена методика определения Jc монокристаллических и керамических образцов по измерениям пространственного распределения Btr, создаваемого биновскими экранирующими сверхтоками при переходе всего объема образца в критическое состояние. Получена формула для определения Jc монокристаллических и керамических СП образцов в форме многоугольной и цилиндрической пластин. Для повышения точности оценки Jc вместо Btrmax(0) использована разность B₀*-Bc₁ (B₀* - поле, индуцирующее на геометрической оси образца Btrmax(0); Bc₁ - первое критическое магнитное поле образца). Оценены Jc и силы пиннинга YВСО и ВSСCО монокристаллических образцов. Определено, что механизмы ЗМП в этих слоистых структурах отличаются.