Бесконтактный метод измеpения плотности критических токов и диагностики сверхпроводников

Бесконтактный метод измеpения плотности критических токов и диагностики сверхпроводников

Исследована роль геометрического фактора сверхпроводящего (СП) образца при магнитных измерениях плотности критических токов Jc. Показано, что небольшое отличие формы образца от цилиндрической существенно не влияет на величину Jc. Обнаружено, что ошибка в оценке Jc монокристаллов при использовании из...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Видавець:Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
Дата:2001
Автор: Ростами, Х.Р.
Формат: Стаття
Мова:Russian
Опубліковано: Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України 2001
Назва видання:Физика низких температур
Теми:
Новые методы низкотемпературного эксперимента
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/129542
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Цитувати:Бесконтактный метод измеpения плотности критических токов и диагностики сверхпроводников / Х.Р. Ростами // Физика низких температур. — 2001. — Т. 27, № 1. — С. 103-108. — Бібліогр.: 11 назв. — рос.

Репозиторії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id irk-123456789-129542
record_format dspace
spelling irk-123456789-1295422018-01-22T03:02:42Z Бесконтактный метод измеpения плотности критических токов и диагностики сверхпроводников Ростами, Х.Р. Новые методы низкотемпературного эксперимента Исследована роль геометрического фактора сверхпроводящего (СП) образца при магнитных измерениях плотности критических токов Jc. Показано, что небольшое отличие формы образца от цилиндрической существенно не влияет на величину Jc. Обнаружено, что ошибка в оценке Jc монокристаллов при использовании известного выражения, определяющего Jc керамик, связана именно с низким уровнем плотности Btr захваченного магнитного потока (ЗМП) в монокристаллах по сравнению с керамиками. Предложена методика определения Jc монокристаллических и керамических образцов по измерениям пространственного распределения Btr, создаваемого биновскими экранирующими сверхтоками при переходе всего объема образца в критическое состояние. Получена формула для определения Jc монокристаллических и керамических СП образцов в форме многоугольной и цилиндрической пластин. Для повышения точности оценки Jc вместо Btrmax(0) использована разность B₀*-Bc₁ (B₀* - поле, индуцирующее на геометрической оси образца Btrmax(0); Bc₁ - первое критическое магнитное поле образца). Оценены Jc и силы пиннинга YВСО и ВSСCО монокристаллических образцов. Определено, что механизмы ЗМП в этих слоистых структурах отличаются. The role of the geometric factor of a superconducting sample in magnetic measurements of the critical current densities Jc is investigated. It is shown that a small difference of the shape of the sample from cylindrical does not have much effect on the value of Jc. It is found that the error in evaluating Jc for single crystals with the use of the standard expression for determining Jc of a ceramic is due to the low trapped magnetic flux density Btr in single crystals as compared to ceramics. A technique is proposed for determining Jc for single-crystal and ceramic samples from measurements of the spatial distribution of BtrBtr produced by the Bean shielding supercurrents upon the transition of the whole volume of the sample to the critical state. A formula is obtained for determining JcJc for single-crystal and ceramic superconducting samples in the form of polygonal and cylindrical slabs. To increase the accuracy of determining Jc the difference B₀*-Bc₁ was used instead of Btrmax(0) (B₀* is the field that induces Btrmax(0) at the geometric axis of the sample, and Bc₁ is the first critical magnetic field of the sample). The values of Jc and of the pinning force in YBCO and BSCCO single-crystal samples are estimated. It is established that the magnetic flux trapping mechanisms in these layered structures are different. 2001 Article Бесконтактный метод измеpения плотности критических токов и диагностики сверхпроводников / Х.Р. Ростами // Физика низких температур. — 2001. — Т. 27, № 1. — С. 103-108. — Бібліогр.: 11 назв. — рос. 0132-6414 PACS: 74.72.-h http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/129542 ru Физика низких температур Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
language Russian
topic Новые методы низкотемпературного эксперимента
Новые методы низкотемпературного эксперимента
spellingShingle Новые методы низкотемпературного эксперимента
Новые методы низкотемпературного эксперимента
Ростами, Х.Р.
Бесконтактный метод измеpения плотности критических токов и диагностики сверхпроводников
Физика низких температур
description Исследована роль геометрического фактора сверхпроводящего (СП) образца при магнитных измерениях плотности критических токов Jc. Показано, что небольшое отличие формы образца от цилиндрической существенно не влияет на величину Jc. Обнаружено, что ошибка в оценке Jc монокристаллов при использовании известного выражения, определяющего Jc керамик, связана именно с низким уровнем плотности Btr захваченного магнитного потока (ЗМП) в монокристаллах по сравнению с керамиками. Предложена методика определения Jc монокристаллических и керамических образцов по измерениям пространственного распределения Btr, создаваемого биновскими экранирующими сверхтоками при переходе всего объема образца в критическое состояние. Получена формула для определения Jc монокристаллических и керамических СП образцов в форме многоугольной и цилиндрической пластин. Для повышения точности оценки Jc вместо Btrmax(0) использована разность B₀*-Bc₁ (B₀* - поле, индуцирующее на геометрической оси образца Btrmax(0); Bc₁ - первое критическое магнитное поле образца). Оценены Jc и силы пиннинга YВСО и ВSСCО монокристаллических образцов. Определено, что механизмы ЗМП в этих слоистых структурах отличаются.
format Article
author Ростами, Х.Р.
author_facet Ростами, Х.Р.
author_sort Ростами, Х.Р.
title Бесконтактный метод измеpения плотности критических токов и диагностики сверхпроводников
title_short Бесконтактный метод измеpения плотности критических токов и диагностики сверхпроводников
title_full Бесконтактный метод измеpения плотности критических токов и диагностики сверхпроводников
title_fullStr Бесконтактный метод измеpения плотности критических токов и диагностики сверхпроводников
title_full_unstemmed Бесконтактный метод измеpения плотности критических токов и диагностики сверхпроводников
title_sort бесконтактный метод измеpения плотности критических токов и диагностики сверхпроводников
publisher Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
publishDate 2001
topic_facet Новые методы низкотемпературного эксперимента
url http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/129542
citation_txt Бесконтактный метод измеpения плотности критических токов и диагностики сверхпроводников / Х.Р. Ростами // Физика низких температур. — 2001. — Т. 27, № 1. — С. 103-108. — Бібліогр.: 11 назв. — рос.
series Физика низких температур
work_keys_str_mv AT rostamihr beskontaktnyjmetodizmepeniâplotnostikritičeskihtokovidiagnostikisverhprovodnikov
first_indexed 2023-10-18T20:58:06Z
last_indexed 2023-10-18T20:58:06Z
_version_ 1796151577782779904

Схожі ресурси