Бесконтактный метод измеpения плотности критических токов и диагностики сверхпроводников
Исследована роль геометрического фактора сверхпроводящего (СП) образца при магнитных измерениях плотности критических токов Jc. Показано, что небольшое отличие формы образца от цилиндрической существенно не влияет на величину Jc. Обнаружено, что ошибка в оценке Jc монокристаллов при использовании из...
Gespeichert in:
| Datum: | 2001 |
|---|---|
| 1. Verfasser: | |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Russian |
| Veröffentlicht: |
Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
2001
|
| Schriftenreihe: | Физика низких температур |
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/129542 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Бесконтактный метод измеpения плотности критических токов и диагностики сверхпроводников / Х.Р. Ростами // Физика низких температур. — 2001. — Т. 27, № 1. — С. 103-108. — Бібліогр.: 11 назв. — рос. |