Бесконтактный метод измеpения плотности критических токов и диагностики сверхпроводников
Исследована роль геометрического фактора сверхпроводящего (СП) образца при магнитных измерениях плотности критических токов Jc. Показано, что небольшое отличие формы образца от цилиндрической существенно не влияет на величину Jc. Обнаружено, что ошибка в оценке Jc монокристаллов при использовании из...
Збережено в:
| Дата: | 2001 |
|---|---|
| Автор: | |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Russian |
| Опубліковано: |
Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
2001
|
| Назва видання: | Физика низких температур |
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/129542 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Бесконтактный метод измеpения плотности критических токов и диагностики сверхпроводников / Х.Р. Ростами // Физика низких температур. — 2001. — Т. 27, № 1. — С. 103-108. — Бібліогр.: 11 назв. — рос. |