Бесконтактный метод измеpения плотности критических токов и диагностики сверхпроводников
Исследована роль геометрического фактора сверхпроводящего (СП) образца при магнитных измерениях плотности критических токов Jc. Показано, что небольшое отличие формы образца от цилиндрической существенно не влияет на величину Jc. Обнаружено, что ошибка в оценке Jc монокристаллов при использовании из...
Збережено в:
| Видавець: | Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України |
|---|---|
| Дата: | 2001 |
| Автор: | |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Russian |
| Опубліковано: |
Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
2001
|
| Назва видання: | Физика низких температур |
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/129542 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Цитувати: | Бесконтактный метод измеpения плотности критических токов и диагностики сверхпроводников / Х.Р. Ростами // Физика низких температур. — 2001. — Т. 27, № 1. — С. 103-108. — Бібліогр.: 11 назв. — рос. |
Репозиторії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineБудьте першим, хто залишить коментар!