2025-02-23T00:40:38-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: Query fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-130134%22&qt=morelikethis&rows=5
2025-02-23T00:40:38-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: => GET http://localhost:8983/solr/biblio/select?fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-130134%22&qt=morelikethis&rows=5
2025-02-23T00:40:38-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: <= 200 OK
2025-02-23T00:40:38-05:00 DEBUG: Deserialized SOLR response
Дефектные моды в анизотропном проволочном метаматериале микроволнового диапазона
В настоящее время большое внимание уделяется изучению дефектных мод, возникающих вследствие нарушения периодичности в фотонных кристаллах. Этот интерес обусловлен тем, что в природе проявление нарушения периодичности встречается чаще, чем идеальная периодичность. Имеющиеся на сегодняшний день резуль...
Saved in:
Main Authors: | , , |
---|---|
Format: | Article |
Language: | Russian |
Published: |
Інститут радіофізики і електроніки ім. А.Я. Усикова НАН України
2017
|
Series: | Радіофізика та електроніка |
Subjects: | |
Online Access: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/130134 |
Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
Summary: | В настоящее время большое внимание уделяется изучению дефектных мод, возникающих вследствие нарушения периодичности в фотонных кристаллах. Этот интерес обусловлен тем, что в природе проявление нарушения периодичности встречается чаще, чем идеальная периодичность. Имеющиеся на сегодняшний день результаты теоретических исследований дефектных мод в искусственных средах (метаматериалах) не дают полного описания данного эффекта. Приведен анализ спектральных свойств анизотропного проволочного метаматериала с пространственным дефектом в микроволновом диапазоне длин волн. Экспериментально обнаружены дефектные моды в запрещенной зоне частотного спектра пропускания анизотропного проволочного метаматериала с дефектом. Выполнен анализ частотных зависимостей положений пиков пропускания, соответствующих возникновению дефектных мод, от толщины дефектного слоя, который показал хорошее совпадение результатов эксперимента с численным расчетом. Показано, что с увеличением толщины дефектного слоя пики дефектных мод смещаются в область низких частот. Результаты исследований могут найти применение при разработке различных телекоммуникационных устройств: фильтров, ответвителей, аттенюаторов, электромагнитных сенсоров, линз с субволновым разрешением, малогабаритных антенн, объектов, «невидимых» в определенном диапазоне частот и др. |
---|