Физическая природа и методические основы диагностики с использованием эффекта асимметрии азимутальной зависимости полной интегральной интенсивности динамической дифракции рентгеновских лучей в кристаллах с нарушенным поверхностным слоем

• Дата: 2017
• Автори: Молодкин, В.Б., Низкова, А.И., Богданов, Е.И., Лизунов, В.В., Толмачев, Н.Г., Дмитриев, С.В., Василик, Я.В., Лизунова, С.В., Карпов, А.Г., Войток, О.Г., Почекуев, В.П.
• Формат: Стаття
• Мова: Russian
• Опубліковано: Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України 2017
• Назва видання: Металлофизика и новейшие технологии
• Теми: Взаимодействия излучения и частиц с конденсированным веществом
• Онлайн доступ: http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/130321
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Цитувати: Физическая природа и методические основы диагностики с использованием эффекта асимметрии азимутальной зависимости полной интегральной интенсивности динамической дифракции рентгеновских лучей в кристаллах с нарушенным поверхностным слоем / В.Б. Молодкин, А.И. Низкова, Е.И. Богданов, В.В. Лизунов, Н.Г. Толмачев, С.В. Дмитриев, Я.В. Василик, С.В. Лизунова, А.Г. Карпов, О.Г. Войток, В.П. Почекуев // Металлофизика и новейшие технологии. — 2017. — Т. 39, № 6. — С. 753-765. — Бібліогр.: 7 назв. — рос.

Проведён детальный анализ физической природы и разработаны методические основы диагностики с использованием обнаруженного авторами эффекта асимметрии азимутальной зависимости полной интегральной интенсивности динамической дифракции рентгеновских лучей, нормированной на азимутальную зависимость интегральной интенсивности динамической дифракции идеального кристалла. С учётом того, что эта асимметрия появляется за счёт интерференции лучей, дифрагированных в кинематически и динамически рассеивающих слоях, и растёт с увеличением толщины кинематически рассеивающего слоя, созданы и реализованы практически основы неразрушающего метода экспериментального определения толщин таких слоёв.