Влияние двойниковой микроструктуры кристаллов с низкой тетрагональностью на дифрацию
Методом Монте Карло в кинематическом приближении смоделированы распределения интенсивности рентгеновских лучей, рассеянных монокристаллами с тетрагональной решеткой, которые представляют собой комплекс двойниковых доменов, разделенных параллельными когерентными границами. Распределения толщин двойни...
Збережено в:
| Видавець: | Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України |
|---|---|
| Дата: | 2001 |
| Автори: | , , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Russian |
| Опубліковано: |
Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України
2001
|
| Назва видання: | Успехи физики металлов |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/133377 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Цитувати: | Влияние двойниковой микроструктуры кристаллов с низкой тетрагональностью на дифрацию / А.И. Устинов, Л.А. Олиховская, Ж.-К. Ниепс, Ф. Бернар // Успехи физики металлов. — 2001. — Т. 2, № 1. — С. 51-84. — Бібліогр.: 42 назв. — рос. |
Репозиторії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| Резюме: | Методом Монте Карло в кинематическом приближении смоделированы распределения интенсивности рентгеновских лучей, рассеянных монокристаллами с тетрагональной решеткой, которые представляют собой комплекс двойниковых доменов, разделенных параллельными когерентными границами. Распределения толщин двойниковых доменов моделировались с использованием геометрической, гауссовой и нормально-логарифмической функций. При определенных значениях параметров этих функций выявлены «критические» эффекты рассеяния, заключающиеся в превращении тетрагонального дублета в одиночный пик или в мультиплет. Показано, что каждая из характеристик профиля тетрагонального дублета зависит от нескольких параметров, характеризующих двойниковую микроструктуру кристалла, а также от степени тетрагональности. |
|---|