2025-02-23T16:13:08-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: Query fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-133384%22&qt=morelikethis&rows=5
2025-02-23T16:13:08-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: => GET http://localhost:8983/solr/biblio/select?fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-133384%22&qt=morelikethis&rows=5
2025-02-23T16:13:08-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: <= 200 OK
2025-02-23T16:13:08-05:00 DEBUG: Deserialized SOLR response
Динамическая дифракция рентгеновских лучей в сверхрешётках

Динамическая дифракция рентгеновских лучей в сверхрешётках

Проведен обзор работ в области динамического рассеяния рентгеновских лучей в гетероэпитаксиальных и акустических сверхрешетках. Рассмотрены основные подходы к описанию динамической дифракции в металлических и полупроводниковых сверхрешетках. Специальное внимание уделено формализму зон устойчивых и н...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Main Authors: Дышеков, А.А., Хапачев, Ю.П.
Format: Article
Language:Russian
Published: Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України 2001
Series:Успехи физики металлов
Online Access:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/133384
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Description
Summary:Проведен обзор работ в области динамического рассеяния рентгеновских лучей в гетероэпитаксиальных и акустических сверхрешетках. Рассмотрены основные подходы к описанию динамической дифракции в металлических и полупроводниковых сверхрешетках. Специальное внимание уделено формализму зон устойчивых и неустойчивых решений системы уравнений Такаги для сверхрешеток. Данный формализм основан на методах качественной теории дифференциальных уравнений. Изложены общие качественные подходы к анализу особенностей дифракции в сверхрешетках различных моделей, которые основаны на концепции единой параметризации характеристик сверхрешетки и волнового поля. Формализм зонных диаграмм позволил классифицировать параметры теории динамической дифракции в сверхрешетках на «внешние» и «внутренние». Развитый формализм позволяет определять структурные характеристики сверхрешетки по виду кривой дифракционного отражения.

Similar Items