Intrinsic UV-VUV luminescence and X-ray emission spectroscopy of BeO and multicomponent oxide dielectrics
The experimental study of intrinsic UV-VUV luminescence and X-ray emission at the selective excitations near fundamental absorption edge as well as at the inner-shell excita-tions for binary BeO crystal and multicomponent oxide crystals Be₂SiO₄, Y₂SiO₅ and La₂Be₂O₅ has been performed. The results sh...
Збережено в:
| Дата: | 2012 |
|---|---|
| Автори: | , , , , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English |
| Опубліковано: |
НТК «Інститут монокристалів» НАН України
2012
|
| Назва видання: | Functional Materials |
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/134193 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Intrinsic UV-VUV luminescence and X-ray emission spectroscopy of BeO and multicomponent oxide dielectrics / V. Ivanov, V. Pustovarov, A. Kikas, T. Kaambre, I. Kuusik, M. Kirm // Functional Materials. — 2012. — Т. 19, № 1. — С. 60-65. — Бібліогр.: 18 назв. — англ. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
irk-123456789-134193 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
irk-123456789-1341932018-06-13T03:05:33Z Intrinsic UV-VUV luminescence and X-ray emission spectroscopy of BeO and multicomponent oxide dielectrics Ivanov, V. Pustovarov, V. Kikas, A. Kaambre, T. Kuusik, I. Kirm, M. Characterization and properties The experimental study of intrinsic UV-VUV luminescence and X-ray emission at the selective excitations near fundamental absorption edge as well as at the inner-shell excita-tions for binary BeO crystal and multicomponent oxide crystals Be₂SiO₄, Y₂SiO₅ and La₂Be₂O₅ has been performed. The results show that relaxation during the time-scale of decay of short-living anion and cation excitations leads to creation of self-trapped excitons at the same low-symmetry local structural units of crystalline lattice. The applied experimental method gives an opportunity to clarify a participation of different crystalline units of complex oxides in the self-trapping of excitons. Виконано експериментальне дослідження власної УФ-ВУФ люмінесценції і рентгенівської емісії для бінарного BeO і комплексних Be₂SiO₄, Y₂SiO₅ й La₂Be₂O₅ кристалів при селективному збудженні поблизу краю фундаментального поглинання і в області поглинання остовних рівнів. Результати дослідження показують, що релаксаційні процеси, що відбуваються протягом часу життя короткоживучих як аніонних, так і катіон-них збуджень приводять до утворення автолокалізованих екситонів у тих самих низьких-симетричних локальних структурних фрагментах кристалічної гратки. Використаний експериментальний метод дозволяє встановити ступінь участі різних фрагментів кристалічної гратки у процесах автолокалізації екситонів у комплексних оксидах. Выполнено экспериментальное исследование собственной УФ-ВУФ люминесценции и рентгеновской эмиссии для бинарного ВеО и комплексных Be₂SiO₄, Y₂SiO₅ и La₂Be₂O₅ кристаллов при селективном возбуждении вблизи края фундаментального поглощения и в области поглощения остовных уровней. Результаты исследования показывают, что релаксационные процессы, происходящие в течение времени жизни короткоживущих как анионных, так и катионных возбуждений приводят к образованию автолокализованных экситонов в одних и тех же низко-симметричных локальных структурных фрагментах кристаллической решетки. Использованный экспериментальный метод позволяет установить степень участия различных фрагментов кристаллической решетки в процессах автолокализации экситонов в комплексных оксидах. 2012 Article Intrinsic UV-VUV luminescence and X-ray emission spectroscopy of BeO and multicomponent oxide dielectrics / V. Ivanov, V. Pustovarov, A. Kikas, T. Kaambre, I. Kuusik, M. Kirm // Functional Materials. — 2012. — Т. 19, № 1. — С. 60-65. — Бібліогр.: 18 назв. — англ. 1027-5495 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/134193 en Functional Materials НТК «Інститут монокристалів» НАН України |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| language |
English |
| topic |
Characterization and properties Characterization and properties |
| spellingShingle |
Characterization and properties Characterization and properties Ivanov, V. Pustovarov, V. Kikas, A. Kaambre, T. Kuusik, I. Kirm, M. Intrinsic UV-VUV luminescence and X-ray emission spectroscopy of BeO and multicomponent oxide dielectrics Functional Materials |
| description |
The experimental study of intrinsic UV-VUV luminescence and X-ray emission at the selective excitations near fundamental absorption edge as well as at the inner-shell excita-tions for binary BeO crystal and multicomponent oxide crystals Be₂SiO₄, Y₂SiO₅ and La₂Be₂O₅ has been performed. The results show that relaxation during the time-scale of decay of short-living anion and cation excitations leads to creation of self-trapped excitons at the same low-symmetry local structural units of crystalline lattice. The applied experimental method gives an opportunity to clarify a participation of different crystalline units of complex oxides in the self-trapping of excitons. |
| format |
Article |
| author |
Ivanov, V. Pustovarov, V. Kikas, A. Kaambre, T. Kuusik, I. Kirm, M. |
| author_facet |
Ivanov, V. Pustovarov, V. Kikas, A. Kaambre, T. Kuusik, I. Kirm, M. |
| author_sort |
Ivanov, V. |
| title |
Intrinsic UV-VUV luminescence and X-ray emission spectroscopy of BeO and multicomponent oxide dielectrics |
| title_short |
Intrinsic UV-VUV luminescence and X-ray emission spectroscopy of BeO and multicomponent oxide dielectrics |
| title_full |
Intrinsic UV-VUV luminescence and X-ray emission spectroscopy of BeO and multicomponent oxide dielectrics |
| title_fullStr |
Intrinsic UV-VUV luminescence and X-ray emission spectroscopy of BeO and multicomponent oxide dielectrics |
| title_full_unstemmed |
Intrinsic UV-VUV luminescence and X-ray emission spectroscopy of BeO and multicomponent oxide dielectrics |
| title_sort |
intrinsic uv-vuv luminescence and x-ray emission spectroscopy of beo and multicomponent oxide dielectrics |
| publisher |
НТК «Інститут монокристалів» НАН України |
| publishDate |
2012 |
| topic_facet |
Characterization and properties |
| url |
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/134193 |
| citation_txt |
Intrinsic UV-VUV luminescence and X-ray emission spectroscopy of BeO and multicomponent oxide dielectrics / V. Ivanov, V. Pustovarov, A. Kikas, T. Kaambre, I. Kuusik, M. Kirm // Functional Materials. — 2012. — Т. 19, № 1. — С. 60-65. — Бібліогр.: 18 назв. — англ. |
| series |
Functional Materials |
| work_keys_str_mv |
AT ivanovv intrinsicuvvuvluminescenceandxrayemissionspectroscopyofbeoandmulticomponentoxidedielectrics AT pustovarovv intrinsicuvvuvluminescenceandxrayemissionspectroscopyofbeoandmulticomponentoxidedielectrics AT kikasa intrinsicuvvuvluminescenceandxrayemissionspectroscopyofbeoandmulticomponentoxidedielectrics AT kaambret intrinsicuvvuvluminescenceandxrayemissionspectroscopyofbeoandmulticomponentoxidedielectrics AT kuusiki intrinsicuvvuvluminescenceandxrayemissionspectroscopyofbeoandmulticomponentoxidedielectrics AT kirmm intrinsicuvvuvluminescenceandxrayemissionspectroscopyofbeoandmulticomponentoxidedielectrics |
| first_indexed |
2023-10-18T21:07:50Z |
| last_indexed |
2023-10-18T21:07:50Z |
| _version_ |
1796151998850007040 |