Optimum Concentration of InSb Photodiode for Minimum Low Reverse Bias Leakage Current

We have investigated a relation between the impurity concentration and the leakage current for three types of InSb diodes. They were fabricated with different impurity concentrations on both sides of the junction such as p - n, p^+ - n; and p^+ - n+ in order to achieve the minimal level of noise. It...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Видавець:Відділення фізики і астрономії НАН України
Дата:2010
Автори: Moradi, M., Daraee, M., Hajian, M., Forghani, M.A., Rastgoo, M., Alipour, A.O.
Формат: Стаття
Мова:English
Опубліковано: Відділення фізики і астрономії НАН України 2010
Теми:
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/13432
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Цитувати:Optimum Concentration of InSb Photodiode for Minimum Low Reverse Bias Leakage Current / M. Moradi, M. Daraee, M. Hajian, M.A. Forghani, M. Rastgoo, A.O. Alipour // Укр. фіз. журн. — 2010. — Т. 55, № 4. — С. 422-425. — Бібліогр.: 14 назв. — англ.

Репозиторії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id irk-123456789-13432
record_format dspace
spelling irk-123456789-134322010-11-09T12:01:51Z Optimum Concentration of InSb Photodiode for Minimum Low Reverse Bias Leakage Current Moradi, M. Daraee, M. Hajian, M. Forghani, M.A. Rastgoo, M. Alipour, A.O. Тверде тіло We have investigated a relation between the impurity concentration and the leakage current for three types of InSb diodes. They were fabricated with different impurity concentrations on both sides of the junction such as p - n, p^+ - n; and p^+ - n+ in order to achieve the minimal level of noise. It is shown that the leakage current at a low reverse bias has a minimum for the p^+ - n diode structure (impurity concentration of order of 2х10^15 cm^-3 for the n-type and 1х10^18 cm^-3 for the p-type). Increasing the impurity beyond these values may cause the tunneling at a low reverse bias voltage close to zero, and decreasing the impurity causes increasing the diffusion current. Дослiджено зв’язок мiж концентрацiєю домiшки та струму витоку для трьох типiв InSb дiодiв. Дiоди було виготовлено з рiзними концентрацiями домiшки на обох боках перехода, а саме p - n, p^+ - n та p^+ - n^+; щоб отримати найнижчий рiвень шумiв. Показано, що струм витоку має мiнiмальне значення при низьких зворотних напругах змiщення для p^+ - n структури (концентрацiя домiшки порядку 2 х 10^15 cм^-3 для n-типу та 1 х 10^18 cм^-3 для p-типу). Зростання концентрацiї домiшки понад цих значень може викликати тунелювання при малих зворотних напругах змiщення, тодi як при зменшеннi концентрацiї зростає дифузiйний струм. 2010 Article Optimum Concentration of InSb Photodiode for Minimum Low Reverse Bias Leakage Current / M. Moradi, M. Daraee, M. Hajian, M.A. Forghani, M. Rastgoo, A.O. Alipour // Укр. фіз. журн. — 2010. — Т. 55, № 4. — С. 422-425. — Бібліогр.: 14 назв. — англ. 2071-0194 PACS 71.20.Nr, 71.55.Eg http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/13432 en Відділення фізики і астрономії НАН України
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
language English
topic Тверде тіло
Тверде тіло
spellingShingle Тверде тіло
Тверде тіло
Moradi, M.
Daraee, M.
Hajian, M.
Forghani, M.A.
Rastgoo, M.
Alipour, A.O.
Optimum Concentration of InSb Photodiode for Minimum Low Reverse Bias Leakage Current
description We have investigated a relation between the impurity concentration and the leakage current for three types of InSb diodes. They were fabricated with different impurity concentrations on both sides of the junction such as p - n, p^+ - n; and p^+ - n+ in order to achieve the minimal level of noise. It is shown that the leakage current at a low reverse bias has a minimum for the p^+ - n diode structure (impurity concentration of order of 2х10^15 cm^-3 for the n-type and 1х10^18 cm^-3 for the p-type). Increasing the impurity beyond these values may cause the tunneling at a low reverse bias voltage close to zero, and decreasing the impurity causes increasing the diffusion current.
format Article
author Moradi, M.
Daraee, M.
Hajian, M.
Forghani, M.A.
Rastgoo, M.
Alipour, A.O.
author_facet Moradi, M.
Daraee, M.
Hajian, M.
Forghani, M.A.
Rastgoo, M.
Alipour, A.O.
author_sort Moradi, M.
title Optimum Concentration of InSb Photodiode for Minimum Low Reverse Bias Leakage Current
title_short Optimum Concentration of InSb Photodiode for Minimum Low Reverse Bias Leakage Current
title_full Optimum Concentration of InSb Photodiode for Minimum Low Reverse Bias Leakage Current
title_fullStr Optimum Concentration of InSb Photodiode for Minimum Low Reverse Bias Leakage Current
title_full_unstemmed Optimum Concentration of InSb Photodiode for Minimum Low Reverse Bias Leakage Current
title_sort optimum concentration of insb photodiode for minimum low reverse bias leakage current
publisher Відділення фізики і астрономії НАН України
publishDate 2010
topic_facet Тверде тіло
url http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/13432
citation_txt Optimum Concentration of InSb Photodiode for Minimum Low Reverse Bias Leakage Current / M. Moradi, M. Daraee, M. Hajian, M.A. Forghani, M. Rastgoo, A.O. Alipour // Укр. фіз. журн. — 2010. — Т. 55, № 4. — С. 422-425. — Бібліогр.: 14 назв. — англ.
work_keys_str_mv AT moradim optimumconcentrationofinsbphotodiodeforminimumlowreversebiasleakagecurrent
AT daraeem optimumconcentrationofinsbphotodiodeforminimumlowreversebiasleakagecurrent
AT hajianm optimumconcentrationofinsbphotodiodeforminimumlowreversebiasleakagecurrent
AT forghanima optimumconcentrationofinsbphotodiodeforminimumlowreversebiasleakagecurrent
AT rastgoom optimumconcentrationofinsbphotodiodeforminimumlowreversebiasleakagecurrent
AT alipourao optimumconcentrationofinsbphotodiodeforminimumlowreversebiasleakagecurrent
first_indexed 2023-10-18T16:51:16Z
last_indexed 2023-10-18T16:51:16Z
_version_ 1796140051906691072