Strain induced effects in p-type silicon whiskers at low temperatures
Complex studies of strain induced effects in boron doped p-type silicon whiskers with [111] crystallographic direction in the wide temperature range 4.2 - 300 K at magnetic fields up to 14 T and under high-energy electron irradiation were carried out. The peculiarities of piezomagnetoresistance of S...
Збережено в:
Дата: | 2012 |
---|---|
Автори: | , , , , |
Формат: | Стаття |
Мова: | English |
Опубліковано: |
НТК «Інститут монокристалів» НАН України
2012
|
Назва видання: | Functional Materials |
Теми: | |
Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/135328 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
Цитувати: | Strain induced effects in p-type silicon whiskers at low temperatures / A.A. Druzhinin, I.I. Maryamova, O.P. Kutrakov, N.S. Liakh-Kaguy, T. Palewski // Functional Materials. — 2012. — Т. 19, № 3. — С. 325-329. — Бібліогр.: 11 назв. — англ. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineБудьте першим, хто залишить коментар!