Ion plasma deposition and optical properties of SiC films

SiC films have been obtained by direct deposition from a C and Si ions flow at energy values in the 30 to 1.500 eV range. The films deposited at the substrate temperature 600 С were chemically and structurally disordered. The deposition energy increase resulted in a reduced optical slot of the film...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2005
Автори: Semenov, A.V., Lopin, A.V., Puzikov, V.M., Muto, Sh.
Формат: Стаття
Мова:English
Опубліковано: НТК «Інститут монокристалів» НАН України 2005
Назва видання:Functional Materials
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/135335
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Ion plasma deposition and optical properties of SiC films / Sh. Muto, V.M. Puzikov, A.V. Lopin, A.V. Semenov // Functional Materials. — 2005. — Т. 12, № 2. — С. 216-223. — Бібліогр.: 22 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id irk-123456789-135335
record_format dspace
spelling irk-123456789-1353352018-06-15T03:10:02Z Ion plasma deposition and optical properties of SiC films Semenov, A.V. Lopin, A.V. Puzikov, V.M. Muto, Sh. SiC films have been obtained by direct deposition from a C and Si ions flow at energy values in the 30 to 1.500 eV range. The films deposited at the substrate temperature 600 С were chemically and structurally disordered. The deposition energy increase resulted in a reduced optical slot of the film and increased Urbach parameter. The dependence is non-monotonous in the energy range 30-250 eV. The maximum value of the film optical gap (2.2 eV) is close to the band gap for cubic SiC (2.4 eV). The non-monotonic dependence of the film optical properties and structure parameters on the ion deposition energy in the 30-250 eV range can be connected with difference in behavior of C and Si sublattices in SiC under low-energy ion bombardment. Методом прямого осаждения из потока ионов C и Si с энергиями в диапазоне 30-1500 эВ получены пленки SiC. Осажденные при температуре подложек 600 С пленки являлись структурно и химически разупорядоченными. Повышение энергии осаждения приводило к уменьшению оптической щели пленок и увеличению параметра Урбаха. В диапазоне энергий 30-250 эВ эта зависимость является немонотонной. Максимальное значение оптической щели пленок (2.2 эВ) близко к величине запрещенной зоны кубического карбида кремния (2.4 эВ). Немонотонная зависимость оптических свойств и структурного состояния пленок от энергии осаждения ионов в диапазоне 30-250 эВ моГут быть связаны с различным поведением углеродной и кремниевой подрешеток карбида кремния в условиях низкоэнергетичной ионной бомбардировки. 2005 Article Ion plasma deposition and optical properties of SiC films / Sh. Muto, V.M. Puzikov, A.V. Lopin, A.V. Semenov // Functional Materials. — 2005. — Т. 12, № 2. — С. 216-223. — Бібліогр.: 22 назв. — англ. 1027-5495 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/135335 en Functional Materials НТК «Інститут монокристалів» НАН України
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
language English
description SiC films have been obtained by direct deposition from a C and Si ions flow at energy values in the 30 to 1.500 eV range. The films deposited at the substrate temperature 600 С were chemically and structurally disordered. The deposition energy increase resulted in a reduced optical slot of the film and increased Urbach parameter. The dependence is non-monotonous in the energy range 30-250 eV. The maximum value of the film optical gap (2.2 eV) is close to the band gap for cubic SiC (2.4 eV). The non-monotonic dependence of the film optical properties and structure parameters on the ion deposition energy in the 30-250 eV range can be connected with difference in behavior of C and Si sublattices in SiC under low-energy ion bombardment.
format Article
author Semenov, A.V.
Lopin, A.V.
Puzikov, V.M.
Muto, Sh.
spellingShingle Semenov, A.V.
Lopin, A.V.
Puzikov, V.M.
Muto, Sh.
Ion plasma deposition and optical properties of SiC films
Functional Materials
author_facet Semenov, A.V.
Lopin, A.V.
Puzikov, V.M.
Muto, Sh.
author_sort Semenov, A.V.
title Ion plasma deposition and optical properties of SiC films
title_short Ion plasma deposition and optical properties of SiC films
title_full Ion plasma deposition and optical properties of SiC films
title_fullStr Ion plasma deposition and optical properties of SiC films
title_full_unstemmed Ion plasma deposition and optical properties of SiC films
title_sort ion plasma deposition and optical properties of sic films
publisher НТК «Інститут монокристалів» НАН України
publishDate 2005
url http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/135335
citation_txt Ion plasma deposition and optical properties of SiC films / Sh. Muto, V.M. Puzikov, A.V. Lopin, A.V. Semenov // Functional Materials. — 2005. — Т. 12, № 2. — С. 216-223. — Бібліогр.: 22 назв. — англ.
series Functional Materials
work_keys_str_mv AT semenovav ionplasmadepositionandopticalpropertiesofsicfilms
AT lopinav ionplasmadepositionandopticalpropertiesofsicfilms
AT puzikovvm ionplasmadepositionandopticalpropertiesofsicfilms
AT mutosh ionplasmadepositionandopticalpropertiesofsicfilms
first_indexed 2023-10-18T21:11:17Z
last_indexed 2023-10-18T21:11:17Z
_version_ 1796152148365410304