Компьютерное моделирование профилей имплантированных ионов Al⁺ в наноструктурную пленку Cu

Методами математического моделирования исследованы зависимости профилей пространственного распределения имплантированных ионов от их угла падения на наноструктурные пленки. Построена компьютерная модель взаимодействия ионов с наноструктурными пленками и проведены расчеты имплантации ионов Al⁺ в медн...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2017
Автори: Павленко, В.И., Марченко, И.Г.
Формат: Стаття
Мова:Russian
Опубліковано: Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України 2017
Назва видання:Вопросы атомной науки и техники
Теми:
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/136145
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Компьютерное моделирование профилей имплантированных ионов Al⁺ в наноструктурную пленку Cu / В.И. Павленко, И.Г. Марченко // Вопросы атомной науки и техники. — 2017. — № 4. — С. 32-38. — Бібліогр.: 18 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id irk-123456789-136145
record_format dspace
spelling irk-123456789-1361452018-06-17T03:04:45Z Компьютерное моделирование профилей имплантированных ионов Al⁺ в наноструктурную пленку Cu Павленко, В.И. Марченко, И.Г. Ядерная физика и элементарные частицы Методами математического моделирования исследованы зависимости профилей пространственного распределения имплантированных ионов от их угла падения на наноструктурные пленки. Построена компьютерная модель взаимодействия ионов с наноструктурными пленками и проведены расчеты имплантации ионов Al⁺ в медную пленку. Энергия падающих ионов была равна 1 кэВ, а угол падения α изменялся в интервале 0…80⁰. Показано, что при ионной обработке поверхности наноструктурных материалов существует интервал значения углов, при которых достигается максимальная концентрация ионов в облучаемой пленке. Методами математичного моделювання досліджені залежності профілів просторового розподілу імплантованих іонів від їх кута падіння на наноструктурні плівки. Побудована комп'ютерна модель взаємодії іонів з наноструктурними плівками і проведені розрахунки імплантації іонів Al⁺ в мідну плівку. Енергія падаючих іонів дорівнювала 1 кеВ, а кут падіння α змiнювався в інтервалі 0…80⁰. Показано, що при іонної обробці поверхні наноструктурних матеріалів існує інтервал значення кутів, при яких досягається максимальна концентрація іонів в опромiнюванiй плівці. In the work by methods of mathematical modeling, the dependences of the profiles of the spatial distribution of implanted ions on their angle of incidence on nanostructured films were studied. A computer model for the interaction of ions with nanostructured films was constructed and calculations were made for the implantation of Al⁺ ions into a copper film. The energy of the incident ions was 1 keV and the angle of incidence α varied in the range from 0 to 80⁰. It is shown that when ion surface treatment of nanostructured materials there is an interval of angles at which the maximum ion concentration in the irradiated film is reached. 2017 Article Компьютерное моделирование профилей имплантированных ионов Al⁺ в наноструктурную пленку Cu / В.И. Павленко, И.Г. Марченко // Вопросы атомной науки и техники. — 2017. — № 4. — С. 32-38. — Бібліогр.: 18 назв. — рос. 1562-6016 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/136145 539.534.9:523.23 ru Вопросы атомной науки и техники Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
language Russian
topic Ядерная физика и элементарные частицы
Ядерная физика и элементарные частицы
spellingShingle Ядерная физика и элементарные частицы
Ядерная физика и элементарные частицы
Павленко, В.И.
Марченко, И.Г.
Компьютерное моделирование профилей имплантированных ионов Al⁺ в наноструктурную пленку Cu
Вопросы атомной науки и техники
description Методами математического моделирования исследованы зависимости профилей пространственного распределения имплантированных ионов от их угла падения на наноструктурные пленки. Построена компьютерная модель взаимодействия ионов с наноструктурными пленками и проведены расчеты имплантации ионов Al⁺ в медную пленку. Энергия падающих ионов была равна 1 кэВ, а угол падения α изменялся в интервале 0…80⁰. Показано, что при ионной обработке поверхности наноструктурных материалов существует интервал значения углов, при которых достигается максимальная концентрация ионов в облучаемой пленке.
format Article
author Павленко, В.И.
Марченко, И.Г.
author_facet Павленко, В.И.
Марченко, И.Г.
author_sort Павленко, В.И.
title Компьютерное моделирование профилей имплантированных ионов Al⁺ в наноструктурную пленку Cu
title_short Компьютерное моделирование профилей имплантированных ионов Al⁺ в наноструктурную пленку Cu
title_full Компьютерное моделирование профилей имплантированных ионов Al⁺ в наноструктурную пленку Cu
title_fullStr Компьютерное моделирование профилей имплантированных ионов Al⁺ в наноструктурную пленку Cu
title_full_unstemmed Компьютерное моделирование профилей имплантированных ионов Al⁺ в наноструктурную пленку Cu
title_sort компьютерное моделирование профилей имплантированных ионов al⁺ в наноструктурную пленку cu
publisher Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
publishDate 2017
topic_facet Ядерная физика и элементарные частицы
url http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/136145
citation_txt Компьютерное моделирование профилей имплантированных ионов Al⁺ в наноструктурную пленку Cu / В.И. Павленко, И.Г. Марченко // Вопросы атомной науки и техники. — 2017. — № 4. — С. 32-38. — Бібліогр.: 18 назв. — рос.
series Вопросы атомной науки и техники
work_keys_str_mv AT pavlenkovi kompʹûternoemodelirovanieprofilejimplantirovannyhionovalvnanostrukturnuûplenkucu
AT marčenkoig kompʹûternoemodelirovanieprofilejimplantirovannyhionovalvnanostrukturnuûplenkucu
first_indexed 2023-10-18T21:09:15Z
last_indexed 2023-10-18T21:09:15Z
_version_ 1796152059171438592