Структура и параметр решетки тонких пленок C₆₀
В интервале температур 300-5К электроннооптическими методами исследована структура и параметр решетки пленок фуллерита C₆₀, сконденсированных в вакууме на поверхность (100) NaCl при температурах подложки 290-400К. Пpи комнатной темпеpатуpе пленки фуллерита имели ГЦК решетку. При изменении температур...
Збережено в:
| Дата: | 1999 |
|---|---|
| Автори: | , , , , |
| Мова: | Russian |
| Опубліковано: |
Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
1999
|
| Назва видання: | Физика низких температур |
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/136223 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Структура и параметр решетки тонких пленок C₆₀ / А.Т. Пугачев, Н.П. Чуракова, Н.И. Горбенко, Х. Саадли, А.А. Солодовник // Физика низких температур. — 1999. — Т. 25, № 3. — С. 298-304. — Бібліогр.: 15 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
irk-123456789-136223 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
irk-123456789-1362232018-06-17T03:08:53Z Структура и параметр решетки тонких пленок C₆₀ Пугачев, А.Т. Чуракова, Н.П. Горбенко, Н.И. Саадли, Х. Солодовник, А.А. Динамика кристаллической решетки В интервале температур 300-5К электроннооптическими методами исследована структура и параметр решетки пленок фуллерита C₆₀, сконденсированных в вакууме на поверхность (100) NaCl при температурах подложки 290-400К. Пpи комнатной темпеpатуpе пленки фуллерита имели ГЦК решетку. При изменении температуры конденсации структура пленок изменялась от эпитаксиальной с ориентацией (111) до неориентированной предельно нанодисперсной с размером зерна 4-5нм. Определены кристаллографические условия сопряжения поверхности (100) NaCl и эпитаксиальных пленок фуллерита C₆₀, установлен четырехпозиционный характер их структуры. Температура перехода ГЦК-ПК и наблюдаемая при этом величина скачка параметра решетки пленок близки к аналогичным данным массивного фуллерита. Из температурной зависимости параметра решетки в интервале 100-260К определен средний коэффициент линейного расширения пленок a . Увеличение a при малых толщинах является размерным эффектом, который обусловлен существенным влиянием поверхности. По данным проведенных исследований предложен механизм формирования структуры конденсированных пленок фуллерита C₆₀. В інтервалі температур 300-5 К електроннооптичними методами досліджено структуру та параметр гратки плівок фулеріту C₆₀, сконденсованих y вакуумі на поверхню (100) NaCl при температурах підкладки 290-400 К. При кімнатній температурі плівки фулеріту мали ГЦК гратку. При зміненні температури конденсації структура плівок змінювалась від епітаксіальної з орієнтацією (111) до неорієнтованої гранично нанодисперсної з розміром зерна 4-5 нм. Визначено кристалографічні умови спряження поверхні (100) NaCl та епітаксіальних плівок фулеріту C₆₀, встановлено чотирьохпозиційний характер їх структури. Температура переходу ГЦК-ПК та величина стрибка параметра гратки плівок, що спостерігається при цьому, близькі до аналогічних даних масивного фулеріту. Із температурної залежності параметра гратки в інтервалі 100-260 К визначено середній коефіцієнт лінійного розширення плівок а. Підвищення а при малих товщинах є розмірним ефектом, який обумовлено істотним впливом поверхні. За даними проведених досліджень запропоновано механізм формування структури конденсованих плівок фулеріту C₆₀. In the temperature range 300-5 K the structure and the lattice parameter of the C₆₀ films, prepared by evaporation in vacuum on the (100) cleavage surface of NaCl, have been investigated. At room temperature the films had a fee lattice. The structure of the films varied from the epitaxial structure with (111) orientation to a highly disordered nanodisperse one with a grain of 4-5 nm as the condensation temperature was varied. The crystallographic conditions of the conjugation of the (100) surface NaCl and the epitaxial C₆₀ fullerite films and the four-position character of their structure were determined. The linear thermal expansion coefficient a was determined from the temperature dependence in the temperature range 100-260 K. The fcc-sc phase transition and the step value of the film lattice parameter are close to those for a bulk fullerite. The increase of a inversely with the film thickness is a size effect due to the influence of the surface. The data obtained made it possible to propose a structure formation mechanism of the condensed fullerite films C₆₀. 1999 Структура и параметр решетки тонких пленок C₆₀ / А.Т. Пугачев, Н.П. Чуракова, Н.И. Горбенко, Х. Саадли, А.А. Солодовник // Физика низких температур. — 1999. — Т. 25, № 3. — С. 298-304. — Бібліогр.: 15 назв. — рос. 0132-6414 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/136223 ru Физика низких температур Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| language |
Russian |
| topic |
Динамика кристаллической решетки Динамика кристаллической решетки |
| spellingShingle |
Динамика кристаллической решетки Динамика кристаллической решетки Пугачев, А.Т. Чуракова, Н.П. Горбенко, Н.И. Саадли, Х. Солодовник, А.А. Структура и параметр решетки тонких пленок C₆₀ Физика низких температур |
| description |
В интервале температур 300-5К электроннооптическими методами исследована структура и параметр решетки пленок фуллерита C₆₀, сконденсированных в вакууме на поверхность (100) NaCl при температурах подложки 290-400К. Пpи комнатной темпеpатуpе пленки фуллерита имели ГЦК решетку. При изменении температуры конденсации структура пленок изменялась от эпитаксиальной с ориентацией (111) до неориентированной предельно нанодисперсной с размером зерна 4-5нм. Определены кристаллографические условия сопряжения поверхности (100) NaCl и эпитаксиальных пленок фуллерита C₆₀, установлен четырехпозиционный характер их структуры. Температура перехода ГЦК-ПК и наблюдаемая при этом величина скачка параметра решетки пленок близки к аналогичным данным массивного фуллерита. Из температурной зависимости параметра решетки в интервале 100-260К определен средний коэффициент линейного расширения пленок a . Увеличение a при малых толщинах является размерным эффектом, который обусловлен существенным влиянием поверхности. По данным проведенных исследований предложен механизм формирования структуры конденсированных пленок фуллерита C₆₀. |
| author |
Пугачев, А.Т. Чуракова, Н.П. Горбенко, Н.И. Саадли, Х. Солодовник, А.А. |
| author_facet |
Пугачев, А.Т. Чуракова, Н.П. Горбенко, Н.И. Саадли, Х. Солодовник, А.А. |
| author_sort |
Пугачев, А.Т. |
| title |
Структура и параметр решетки тонких пленок C₆₀ |
| title_short |
Структура и параметр решетки тонких пленок C₆₀ |
| title_full |
Структура и параметр решетки тонких пленок C₆₀ |
| title_fullStr |
Структура и параметр решетки тонких пленок C₆₀ |
| title_full_unstemmed |
Структура и параметр решетки тонких пленок C₆₀ |
| title_sort |
структура и параметр решетки тонких пленок c₆₀ |
| publisher |
Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України |
| publishDate |
1999 |
| topic_facet |
Динамика кристаллической решетки |
| url |
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/136223 |
| citation_txt |
Структура и параметр решетки тонких пленок C₆₀ / А.Т. Пугачев, Н.П. Чуракова, Н.И. Горбенко, Х. Саадли, А.А. Солодовник // Физика низких температур. — 1999. — Т. 25, № 3. — С. 298-304. — Бібліогр.: 15 назв. — рос. |
| series |
Физика низких температур |
| work_keys_str_mv |
AT pugačevat strukturaiparametrrešetkitonkihplenokc60 AT čurakovanp strukturaiparametrrešetkitonkihplenokc60 AT gorbenkoni strukturaiparametrrešetkitonkihplenokc60 AT saadlih strukturaiparametrrešetkitonkihplenokc60 AT solodovnikaa strukturaiparametrrešetkitonkihplenokc60 |
| first_indexed |
2023-10-18T21:12:21Z |
| last_indexed |
2023-10-18T21:12:21Z |
| _version_ |
1796152194775384064 |