$Residual stresses in Ti₄₁¸₅Zr₄₁¸₅Ni₁₇ quasi-crystalline ribbons measured by X-ray diffraction$

Residual stresses in Ti₄₁¸₅Zr₄₁¸₅Ni₁₇ quasi-crystalline ribbons measured by X-ray diffraction

Using X-ray diffraction, strain measurement, scanning electron microscopy, and microprobe analysis, structure, composition and stress state were studied in Ti₄₁¸₅Zr₄₁¸₅Ni₁₇ quasi-crystalline ribbons prepared by one-side melt solidification on the rotating wheel. The macro-stresses have been found to...

Повний опис

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Дата:	2007
Автор:	Malykhin, S.
Формат:	Стаття
Мова:	English
Опубліковано:	НТК «Інститут монокристалів» НАН України 2007
Назва видання:	Functional Materials
Онлайн доступ:	http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/136493
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:	Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:	Residual stresses in Ti₄₁¸₅Zr₄₁¸₅Ni₁₇ quasi-crystalline ribbons measured by X-ray diffraction / S. Malykhin // Functional Materials. — 2007. — Т. 14, № 2. — С. 223-227. — Бібліогр.: 22 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

Схожі ресурси

Stability of thin quasi-crystalline Ti-Zr-Ni films and related crystalline phases under low-energy transient plasma irradiation
за авторством: Malykhin, S.V., та інші
Опубліковано: (2022)

Thermal expansion and Debye temperature of Ti-Zr-Ni quasi-crystal
за авторством: Malykhin, S.V., та інші
Опубліковано: (2006)

The methodology for X-ray diffraction investigation of icosahedral quasicrystals substructure
за авторством: Bazdyreva, S.V., та інші
Опубліковано: (2013)

Failure of Zr50 Ti16.5 Cu15 Ni18.5 amorphous metallic ribbon
за авторством: Miskuf, J., та інші
Опубліковано: (2008)

Research on mechanical stress relaxation in real crystals by X-ray diffraction moire method
за авторством: V. P. Shafraniuk
Опубліковано: (2016)

Inside welds: advanced characterization of residual stresses by neutron diffraction
за авторством: M. Rogante
Опубліковано: (2020)

Convolution problems in time-resolved X-ray diffraction
за авторством: S. Bratos, та інші
Опубліковано: (2012)

Convolution problems in time-resolved X-ray diffraction
за авторством: S. Bratos, та інші
Опубліковано: (2012)

Nhancement of structure and substructure analysis of W2B5-TiB2 quasi-binary nano-crystalline condensed and bulk materials with application of "new_profile" soft-ware for x-ray diffraction data treatment
за авторством: M. V. Reshetnjak, та інші
Опубліковано: (2008)

Microstructure Characterization of Nanocrystalline Ni₅₀Ti₅₀ Alloy Prepared Via Mechanical Alloying Method Using the Rietveld Refinement Method Applied to the X-Ray Diffraction
за авторством: Sakher, E., та інші
Опубліковано: (2017)

Radiation/annealing-induced structural changes in GexAs₄₀-xS₆₀ glasses as revealed from high-energy synchrotron X-ray diffraction measurements
за авторством: Kavetskyy, T.S., та інші
Опубліковано: (2012)

Correlation of spectral analysis and X-ray diffraction study in identifying different types of coordinated tiosemicarbazone in the Ni(II) complex
за авторством: H. H. Repich, та інші
Опубліковано: (2015)

Simulation of low angle X-ray diffraction on multilayers subjected to diffusion
за авторством: Fedorov, A.G.
Опубліковано: (2000)

Hysteretic phenomena in Xe-doped C₆₀ from x-ray diffraction
за авторством: Prokhvatilov, A.I., та інші
Опубліковано: (2005)

X-ray excited luminescence of ytterbium containing YAG single crystalline films
за авторством: Zakharko, Ya.M., та інші
Опубліковано: (2005)

X-ray spectra and peculiarities of the electronic-energy structure of ZrTiO4 and HfTiO4 oxides
за авторством: A. A. Lavrentev, та інші
Опубліковано: (2012)

Intercalation of fullerite C₆₀ with N₂ molecules. An investigation by x-ray powder diffraction
за авторством: Galtsov, N.N., та інші
Опубліковано: (2007)

X-ray diffraction and thermal studies on some food and cosmetic bentonite clays
за авторством: O. I. Oranska, та інші
Опубліковано: (2019)

Study of damaged layer depth in thermoelectric materials by X-ray diffraction interferometry
за авторством: V. P. Shafranyuk
Опубліковано: (2016)

X-ray diffraction analysis of the polymorphic transition formed in constant physical fields
за авторством: V. O. Vilenskyi, та інші
Опубліковано: (2014)

The Role of Inhomogeneous Deformation and Correlation of Subsurface Defects in Grazing X-Ray Diffraction
за авторством: Ju. Gaevskij, та інші
Опубліковано: (2014)

Radiation/annealing-induced structural changes in GexAs40 xS60 glasses as revealed from high-energy synchrotron X-ray diffraction measurements
за авторством: T. S. Kavetskyy, та інші
Опубліковано: (2012)

Raman spectroscopy and X-ray diffraction studies of (GeS₂)₁₀₀₋x(SbSI)x glasses and composites on their basis
за авторством: Rubish, V.M., та інші
Опубліковано: (2014)

On the use of model diffraction profiles in the microstructure analysis of nanocrystalline metal oxides based on powder x-ray diffraction data
за авторством: O. I. Oranska, та інші
Опубліковано: (2022)

Modification of Ti-Zr-Ni alloys by powerful plasma stream of different gases
за авторством: Bazdyrieva, S.V., та інші
Опубліковано: (2015)

Production of textured ribbons based on Ni–W paramagnetic alloys
за авторством: Finkel, V.A., та інші
Опубліковано: (2013)

X-ray diffraction study of atomic long-range order of Fe-AI alloy
за авторством: Repetsky, S.P., та інші
Опубліковано: (2005)

X-Ray Diffraction Images of Microscratchings Presented in the Form of Multilane Distributions of Concentrated Forces
за авторством: I. M. Fodchuk, та інші
Опубліковано: (2013)

The theory of the line profile based on the absorption of X-ray diffraction and its experimental demonstration
за авторством: Liu Kejia, та інші
Опубліковано: (2016)

Method of X-ray diffraction data processing for multiphase materials with low phase contents
за авторством: A. D. Skorbun, та інші
Опубліковано: (2019)

Method of X-ray diffraction data processing for multiphase materials with low phase contents
за авторством: A. D. Scorbun, та інші
Опубліковано: (2019)

Investigation of the interaction of lithium with n-InSe: spectra of inpedance and X-ray diffraction
за авторством: S. V. Havryliuk, та інші
Опубліковано: (2014)

CdZnTe sensors for X-ray measurements
за авторством: A. V. Rybka, та інші
Опубліковано: (2006)

Optimization of Residual Stresses in Laser-Mixed WC(Co,Ni) Coatings
за авторством: Liu, C.W., та інші
Опубліковано: (2019)

Синтез и стабильность Ti-Zr-Ni-квазикристаллов
за авторством: Ажажа, В.М., та інші
Опубліковано: (2007)

Raman spectroscopy and X-ray diffraction studies of (GeS2)100-x(SbSI)x glasses and composites on their basis
за авторством: V. M. Rubish, та інші
Опубліковано: (2014)

Study of structure perfection of KDP single crystals using the X-ray dynamic diffraction effects
за авторством: Puzikov, V.M., та інші
Опубліковано: (2011)

Supramolecular organization and electronic structure of perylene tetracarboxylic diimide: X-ray diffraction and theoretical studies
за авторством: Pokropivny, A.
Опубліковано: (2010)

Interlayer Mn–Mn exchange parameter MnPS₃ from x-ray diffraction data
за авторством: Yagotintsev, K.A., та інші
Опубліковано: (2012)

Growing and X-ray diffraction pattern of single-crystal double phosphate Li₂Mn(PO₃)₄
за авторством: Nagorny, P.G., та інші
Опубліковано: (2018)