Analysis of low-temperature relaxation resonances in materials containing defects
A theory has been advanced providing an adequate description of thermal-activated relaxation resonances of various physical origins in defect-containing materials. The algorithm has been proposed for processing the temperature spectra of absorption and suscep -tibility defect to determine the relaxa...
Збережено в:
Дата: | 2004 |
---|---|
Автори: | , |
Формат: | Стаття |
Мова: | English |
Опубліковано: |
НТК «Інститут монокристалів» НАН України
2004
|
Назва видання: | Functional Materials |
Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/138820 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
Цитувати: | Analysis of low-temperature relaxation resonances in materials containing defects / V.D. Natsik, Yu.A. Semerenko // Functional Materials. — 2004. — Т. 11, № 2. — С. 327-333. — Бібліогр.: 6 назв. — англ. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraineid |
irk-123456789-138820 |
---|---|
record_format |
dspace |
spelling |
irk-123456789-1388202018-06-20T03:06:40Z Analysis of low-temperature relaxation resonances in materials containing defects Natsik, V.D. Semerenko, Yu.A. A theory has been advanced providing an adequate description of thermal-activated relaxation resonances of various physical origins in defect-containing materials. The algorithm has been proposed for processing the temperature spectra of absorption and suscep -tibility defect to determine the relaxation process activation parameters. Предложена теория, позволяющая адекватно описывать низкотемпературные термически активируемые релаксационные резонансы различной физической природы в материалах с дефектами. Описан алгоритм определения активационных параметров соответствующего процесса, основанный на анализе температурных спектров поглощения и дефекта восприимчивости. Запропоновано тєорію, що дозволяє адекватно описувати релаксаційні резонанси різної фізичної природи у матеріалах з дефектами. Описано метод визначення активаційних параметрів відповідного процесу, що базується на аналізі температурних спектрів поглинання та сприйнятливості. 2004 Article Analysis of low-temperature relaxation resonances in materials containing defects / V.D. Natsik, Yu.A. Semerenko // Functional Materials. — 2004. — Т. 11, № 2. — С. 327-333. — Бібліогр.: 6 назв. — англ. 1027-5495 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/138820 en Functional Materials НТК «Інститут монокристалів» НАН України |
institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
collection |
DSpace DC |
language |
English |
description |
A theory has been advanced providing an adequate description of thermal-activated relaxation resonances of various physical origins in defect-containing materials. The algorithm has been proposed for processing the temperature spectra of absorption and suscep -tibility defect to determine the relaxation process activation parameters. |
format |
Article |
author |
Natsik, V.D. Semerenko, Yu.A. |
spellingShingle |
Natsik, V.D. Semerenko, Yu.A. Analysis of low-temperature relaxation resonances in materials containing defects Functional Materials |
author_facet |
Natsik, V.D. Semerenko, Yu.A. |
author_sort |
Natsik, V.D. |
title |
Analysis of low-temperature relaxation resonances in materials containing defects |
title_short |
Analysis of low-temperature relaxation resonances in materials containing defects |
title_full |
Analysis of low-temperature relaxation resonances in materials containing defects |
title_fullStr |
Analysis of low-temperature relaxation resonances in materials containing defects |
title_full_unstemmed |
Analysis of low-temperature relaxation resonances in materials containing defects |
title_sort |
analysis of low-temperature relaxation resonances in materials containing defects |
publisher |
НТК «Інститут монокристалів» НАН України |
publishDate |
2004 |
url |
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/138820 |
citation_txt |
Analysis of low-temperature relaxation resonances in materials containing defects / V.D. Natsik, Yu.A. Semerenko // Functional Materials. — 2004. — Т. 11, № 2. — С. 327-333. — Бібліогр.: 6 назв. — англ. |
series |
Functional Materials |
work_keys_str_mv |
AT natsikvd analysisoflowtemperaturerelaxationresonancesinmaterialscontainingdefects AT semerenkoyua analysisoflowtemperaturerelaxationresonancesinmaterialscontainingdefects |
first_indexed |
2023-10-18T21:18:37Z |
last_indexed |
2023-10-18T21:18:37Z |
_version_ |
1796152463190917120 |