Analysis of low-temperature relaxation resonances in materials containing defects

A theory has been advanced providing an adequate description of thermal-activated relaxation resonances of various physical origins in defect-containing materials. The algorithm has been proposed for processing the temperature spectra of absorption and suscep -tibility defect to determine the relaxa...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2004
Автори: Natsik, V.D., Semerenko, Yu.A.
Формат: Стаття
Мова:English
Опубліковано: НТК «Інститут монокристалів» НАН України 2004
Назва видання:Functional Materials
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/138820
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Analysis of low-temperature relaxation resonances in materials containing defects / V.D. Natsik, Yu.A. Semerenko // Functional Materials. — 2004. — Т. 11, № 2. — С. 327-333. — Бібліогр.: 6 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id irk-123456789-138820
record_format dspace
spelling irk-123456789-1388202018-06-20T03:06:40Z Analysis of low-temperature relaxation resonances in materials containing defects Natsik, V.D. Semerenko, Yu.A. A theory has been advanced providing an adequate description of thermal-activated relaxation resonances of various physical origins in defect-containing materials. The algorithm has been proposed for processing the temperature spectra of absorption and suscep -tibility defect to determine the relaxation process activation parameters. Предложена теория, позволяющая адекватно описывать низкотемпературные термически активируемые релаксационные резонансы различной физической природы в материалах с дефектами. Описан алгоритм определения активационных параметров соответствующего процесса, основанный на анализе температурных спектров поглощения и дефекта восприимчивости. Запропоновано тєорію, що дозволяє адекватно описувати релаксаційні резонанси різної фізичної природи у матеріалах з дефектами. Описано метод визначення активаційних параметрів відповідного процесу, що базується на аналізі температурних спектрів поглинання та сприйнятливості. 2004 Article Analysis of low-temperature relaxation resonances in materials containing defects / V.D. Natsik, Yu.A. Semerenko // Functional Materials. — 2004. — Т. 11, № 2. — С. 327-333. — Бібліогр.: 6 назв. — англ. 1027-5495 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/138820 en Functional Materials НТК «Інститут монокристалів» НАН України
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
language English
description A theory has been advanced providing an adequate description of thermal-activated relaxation resonances of various physical origins in defect-containing materials. The algorithm has been proposed for processing the temperature spectra of absorption and suscep -tibility defect to determine the relaxation process activation parameters.
format Article
author Natsik, V.D.
Semerenko, Yu.A.
spellingShingle Natsik, V.D.
Semerenko, Yu.A.
Analysis of low-temperature relaxation resonances in materials containing defects
Functional Materials
author_facet Natsik, V.D.
Semerenko, Yu.A.
author_sort Natsik, V.D.
title Analysis of low-temperature relaxation resonances in materials containing defects
title_short Analysis of low-temperature relaxation resonances in materials containing defects
title_full Analysis of low-temperature relaxation resonances in materials containing defects
title_fullStr Analysis of low-temperature relaxation resonances in materials containing defects
title_full_unstemmed Analysis of low-temperature relaxation resonances in materials containing defects
title_sort analysis of low-temperature relaxation resonances in materials containing defects
publisher НТК «Інститут монокристалів» НАН України
publishDate 2004
url http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/138820
citation_txt Analysis of low-temperature relaxation resonances in materials containing defects / V.D. Natsik, Yu.A. Semerenko // Functional Materials. — 2004. — Т. 11, № 2. — С. 327-333. — Бібліогр.: 6 назв. — англ.
series Functional Materials
work_keys_str_mv AT natsikvd analysisoflowtemperaturerelaxationresonancesinmaterialscontainingdefects
AT semerenkoyua analysisoflowtemperaturerelaxationresonancesinmaterialscontainingdefects
first_indexed 2023-10-18T21:18:37Z
last_indexed 2023-10-18T21:18:37Z
_version_ 1796152463190917120