Crystallization process in thin stoichiometric GeSbTe films

The crystallization kinetics of Ge₁Sb₂Тe₄ and Ge₂Sb₂Тe₅ films has been analyzed using results of impedance measurements, in which Bruggerman's effective medium approximation was employed, considering that the amorphous matrix contained inclusions of two different crystalline phases. To vali...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2005
Автори: Claudio, D., Laine, B., Licea, O., Morales-Sanchez, E., Prokhorov, E., Trapaga, G.
Формат: Стаття
Мова:English
Опубліковано: НТК «Інститут монокристалів» НАН України 2005
Назва видання:Functional Materials
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/138877
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Crystallization process in thin stoichiometric GeSbTe films / D. Claudio, B. Laine, O. Licea, E. Morales-Sanchez, E. Prokhorov, G. Trapaga // Functional Materials. — 2005. — Т. 12, № 4. — С. 669-673. — Бібліогр.: 13 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine