Амплитудно-фазовая спектpоскопия pезонансного отpажения света кpисталлами с pезонатоpами Фабpи-Пеpо на повеpхности
Исследованы условия формирования минимумов амплитудных спектров отражения электромагнитных волн прозрачными интерферометрами Фабри-Перо, закрепленными на поверхности кристаллов с резонансной дисперсией диэлектрической проницаемости ẽ(w). Показано, что независимо от характера дисперсии ẽ(w) минимум...
Збережено в:
| Дата: | 1999 |
|---|---|
| Автор: | |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Russian |
| Опубліковано: |
Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
1999
|
| Назва видання: | Физика низких температур |
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/139063 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Амплитудно-фазовая спектpоскопия pезонансного отpажения света кpисталлами с pезонатоpами Фабpи-Пеpо на повеpхности / П.С. Кособуцкий // Физика низких температур. — 1999. — Т. 25, № 10. — С. 1092-1098. — Бібліогр.: 29 назв. — рос. |
Репозиторії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| Резюме: | Исследованы условия формирования минимумов амплитудных спектров отражения электромагнитных волн прозрачными интерферометрами Фабри-Перо, закрепленными на поверхности кристаллов с резонансной дисперсией диэлектрической проницаемости ẽ(w). Показано, что независимо от характера дисперсии ẽ(w) минимум контура отражения формируется на частоте wₘ фазовой компенсации, для которой общая фаза отраженной волны кратна p. Получены аналитические выражения, связывающие частоту минимума контура отражения с параметрами поверхностного резонатора и резонансного возбуждения в подложке объемных экситонов, фононов и плазмонов. |
|---|