Анализ и экспериментальная апробация моделей отказов дефектных ИЭТ
Проанализированы процесс и модели отказов ИЭТ из-за механических напряжений и диффузионных процессов.
Збережено в:
| Дата: | 1998 |
|---|---|
| Автори: | , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Russian |
| Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
1998
|
| Назва видання: | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/140696 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Анализ и экспериментальная апробация моделей отказов дефектных ИЭТ / С.В. Ленков, З.А. Фишер, В.В. Зубарев // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 1998. — № 1. — С. 12-14. — Бібліогр.: 13 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
irk-123456789-140696 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
irk-123456789-1406962018-07-15T01:22:52Z Анализ и экспериментальная апробация моделей отказов дефектных ИЭТ Ленков, С.В. Фишер, З.А. Зубарев, В.В. Качество и надежность аппаратуры Проанализированы процесс и модели отказов ИЭТ из-за механических напряжений и диффузионных процессов. The process and the models of EEA (electronic engineering articles) failures because of stress and diffusion processes have been analysed. 1998 Article Анализ и экспериментальная апробация моделей отказов дефектных ИЭТ / С.В. Ленков, З.А. Фишер, В.В. Зубарев // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 1998. — № 1. — С. 12-14. — Бібліогр.: 13 назв. — рос. 2225-5818 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/140696 ru Технология и конструирование в электронной аппаратуре Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| language |
Russian |
| topic |
Качество и надежность аппаратуры Качество и надежность аппаратуры |
| spellingShingle |
Качество и надежность аппаратуры Качество и надежность аппаратуры Ленков, С.В. Фишер, З.А. Зубарев, В.В. Анализ и экспериментальная апробация моделей отказов дефектных ИЭТ Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
| description |
Проанализированы процесс и модели отказов ИЭТ из-за механических напряжений и диффузионных процессов. |
| format |
Article |
| author |
Ленков, С.В. Фишер, З.А. Зубарев, В.В. |
| author_facet |
Ленков, С.В. Фишер, З.А. Зубарев, В.В. |
| author_sort |
Ленков, С.В. |
| title |
Анализ и экспериментальная апробация моделей отказов дефектных ИЭТ |
| title_short |
Анализ и экспериментальная апробация моделей отказов дефектных ИЭТ |
| title_full |
Анализ и экспериментальная апробация моделей отказов дефектных ИЭТ |
| title_fullStr |
Анализ и экспериментальная апробация моделей отказов дефектных ИЭТ |
| title_full_unstemmed |
Анализ и экспериментальная апробация моделей отказов дефектных ИЭТ |
| title_sort |
анализ и экспериментальная апробация моделей отказов дефектных иэт |
| publisher |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
| publishDate |
1998 |
| topic_facet |
Качество и надежность аппаратуры |
| url |
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/140696 |
| citation_txt |
Анализ и экспериментальная апробация моделей отказов дефектных ИЭТ / С.В. Ленков, З.А. Фишер, В.В. Зубарев // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 1998. — № 1. — С. 12-14. — Бібліогр.: 13 назв. — рос. |
| series |
Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
| work_keys_str_mv |
AT lenkovsv analiziéksperimentalʹnaâaprobaciâmodelejotkazovdefektnyhiét AT fišerza analiziéksperimentalʹnaâaprobaciâmodelejotkazovdefektnyhiét AT zubarevvv analiziéksperimentalʹnaâaprobaciâmodelejotkazovdefektnyhiét |
| first_indexed |
2023-10-18T21:23:13Z |
| last_indexed |
2023-10-18T21:23:13Z |
| _version_ |
1796152675659677696 |