Технологический контроль диаметра модового поля одномодовых оптических волокон

Оборудование контроля основано на электронном сканировании поперечного распределения интенсивности излучения световода.

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:1998
Автори: Невлюдов, И.Ш., Филипенко, А.И.
Формат: Стаття
Мова:Russian
Опубліковано: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 1998
Назва видання:Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Теми:
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/140700
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Технологический контроль диаметра модового поля одномодовых оптических волокон / И.Ш. Невлюдов, А.И. Филипенко // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 1998. — № 1. — С. 22-24. — Бібліогр.: 5 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id irk-123456789-140700
record_format dspace
spelling irk-123456789-1407002018-07-15T01:22:55Z Технологический контроль диаметра модового поля одномодовых оптических волокон Невлюдов, И.Ш. Филипенко, А.И. Оптоэлектронные системы Оборудование контроля основано на электронном сканировании поперечного распределения интенсивности излучения световода. The equipment of control is based on electronic seanning of cross distribution of radiation intensity. 1998 Article Технологический контроль диаметра модового поля одномодовых оптических волокон / И.Ш. Невлюдов, А.И. Филипенко // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 1998. — № 1. — С. 22-24. — Бібліогр.: 5 назв. — рос. 2225-5818 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/140700 ru Технология и конструирование в электронной аппаратуре Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
language Russian
topic Оптоэлектронные системы
Оптоэлектронные системы
spellingShingle Оптоэлектронные системы
Оптоэлектронные системы
Невлюдов, И.Ш.
Филипенко, А.И.
Технологический контроль диаметра модового поля одномодовых оптических волокон
Технология и конструирование в электронной аппаратуре
description Оборудование контроля основано на электронном сканировании поперечного распределения интенсивности излучения световода.
format Article
author Невлюдов, И.Ш.
Филипенко, А.И.
author_facet Невлюдов, И.Ш.
Филипенко, А.И.
author_sort Невлюдов, И.Ш.
title Технологический контроль диаметра модового поля одномодовых оптических волокон
title_short Технологический контроль диаметра модового поля одномодовых оптических волокон
title_full Технологический контроль диаметра модового поля одномодовых оптических волокон
title_fullStr Технологический контроль диаметра модового поля одномодовых оптических волокон
title_full_unstemmed Технологический контроль диаметра модового поля одномодовых оптических волокон
title_sort технологический контроль диаметра модового поля одномодовых оптических волокон
publisher Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
publishDate 1998
topic_facet Оптоэлектронные системы
url http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/140700
citation_txt Технологический контроль диаметра модового поля одномодовых оптических волокон / И.Ш. Невлюдов, А.И. Филипенко // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 1998. — № 1. — С. 22-24. — Бібліогр.: 5 назв. — рос.
series Технология и конструирование в электронной аппаратуре
work_keys_str_mv AT nevlûdoviš tehnologičeskijkontrolʹdiametramodovogopolâodnomodovyhoptičeskihvolokon
AT filipenkoai tehnologičeskijkontrolʹdiametramodovogopolâodnomodovyhoptičeskihvolokon
first_indexed 2023-10-18T21:23:14Z
last_indexed 2023-10-18T21:23:14Z
_version_ 1796152676082253824