Технологический контроль диаметра модового поля одномодовых оптических волокон
Оборудование контроля основано на электронном сканировании поперечного распределения интенсивности излучения световода.
Збережено в:
Дата: | 1998 |
---|---|
Автори: | , |
Формат: | Стаття |
Мова: | Russian |
Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
1998
|
Назва видання: | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
Теми: | |
Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/140700 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
Цитувати: | Технологический контроль диаметра модового поля одномодовых оптических волокон / И.Ш. Невлюдов, А.И. Филипенко // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 1998. — № 1. — С. 22-24. — Бібліогр.: 5 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraineid |
irk-123456789-140700 |
---|---|
record_format |
dspace |
spelling |
irk-123456789-1407002018-07-15T01:22:55Z Технологический контроль диаметра модового поля одномодовых оптических волокон Невлюдов, И.Ш. Филипенко, А.И. Оптоэлектронные системы Оборудование контроля основано на электронном сканировании поперечного распределения интенсивности излучения световода. The equipment of control is based on electronic seanning of cross distribution of radiation intensity. 1998 Article Технологический контроль диаметра модового поля одномодовых оптических волокон / И.Ш. Невлюдов, А.И. Филипенко // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 1998. — № 1. — С. 22-24. — Бібліогр.: 5 назв. — рос. 2225-5818 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/140700 ru Технология и конструирование в электронной аппаратуре Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
collection |
DSpace DC |
language |
Russian |
topic |
Оптоэлектронные системы Оптоэлектронные системы |
spellingShingle |
Оптоэлектронные системы Оптоэлектронные системы Невлюдов, И.Ш. Филипенко, А.И. Технологический контроль диаметра модового поля одномодовых оптических волокон Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
description |
Оборудование контроля основано на электронном сканировании поперечного распределения интенсивности излучения световода. |
format |
Article |
author |
Невлюдов, И.Ш. Филипенко, А.И. |
author_facet |
Невлюдов, И.Ш. Филипенко, А.И. |
author_sort |
Невлюдов, И.Ш. |
title |
Технологический контроль диаметра модового поля одномодовых оптических волокон |
title_short |
Технологический контроль диаметра модового поля одномодовых оптических волокон |
title_full |
Технологический контроль диаметра модового поля одномодовых оптических волокон |
title_fullStr |
Технологический контроль диаметра модового поля одномодовых оптических волокон |
title_full_unstemmed |
Технологический контроль диаметра модового поля одномодовых оптических волокон |
title_sort |
технологический контроль диаметра модового поля одномодовых оптических волокон |
publisher |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
publishDate |
1998 |
topic_facet |
Оптоэлектронные системы |
url |
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/140700 |
citation_txt |
Технологический контроль диаметра модового поля одномодовых оптических волокон / И.Ш. Невлюдов, А.И. Филипенко // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 1998. — № 1. — С. 22-24. — Бібліогр.: 5 назв. — рос. |
series |
Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
work_keys_str_mv |
AT nevlûdoviš tehnologičeskijkontrolʹdiametramodovogopolâodnomodovyhoptičeskihvolokon AT filipenkoai tehnologičeskijkontrolʹdiametramodovogopolâodnomodovyhoptičeskihvolokon |
first_indexed |
2023-10-18T21:23:14Z |
last_indexed |
2023-10-18T21:23:14Z |
_version_ |
1796152676082253824 |