2025-02-23T22:09:45-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: Query fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-140766%22&qt=morelikethis&rows=5
2025-02-23T22:09:45-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: => GET http://localhost:8983/solr/biblio/select?fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-140766%22&qt=morelikethis&rows=5
2025-02-23T22:09:45-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: <= 200 OK
2025-02-23T22:09:45-05:00 DEBUG: Deserialized SOLR response

Геттерирование примесей и дефектов в системной технологии микроэлектроники БИС

Saved in:
Bibliographic Details
Main Author: Новосядлый, С.П.
Format: Article
Language:Russian
Published: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 1998
Series:Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Subjects:
Online Access:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/140766
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
id irk-123456789-140766
record_format dspace
spelling irk-123456789-1407662018-07-16T01:23:18Z Геттерирование примесей и дефектов в системной технологии микроэлектроники БИС Новосядлый, С.П. Депонированные рукописи 1998 Article Геттерирование примесей и дефектов в системной технологии микроэлектроники БИС / С.П. Новосядлый // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 1998. — № 2. — С. 39. — рос. 2225-5818 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/140766 ru Технология и конструирование в электронной аппаратуре Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
language Russian
topic Депонированные рукописи
Депонированные рукописи
spellingShingle Депонированные рукописи
Депонированные рукописи
Новосядлый, С.П.
Геттерирование примесей и дефектов в системной технологии микроэлектроники БИС
Технология и конструирование в электронной аппаратуре
format Article
author Новосядлый, С.П.
author_facet Новосядлый, С.П.
author_sort Новосядлый, С.П.
title Геттерирование примесей и дефектов в системной технологии микроэлектроники БИС
title_short Геттерирование примесей и дефектов в системной технологии микроэлектроники БИС
title_full Геттерирование примесей и дефектов в системной технологии микроэлектроники БИС
title_fullStr Геттерирование примесей и дефектов в системной технологии микроэлектроники БИС
title_full_unstemmed Геттерирование примесей и дефектов в системной технологии микроэлектроники БИС
title_sort геттерирование примесей и дефектов в системной технологии микроэлектроники бис
publisher Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
publishDate 1998
topic_facet Депонированные рукописи
url http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/140766
citation_txt Геттерирование примесей и дефектов в системной технологии микроэлектроники БИС / С.П. Новосядлый // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 1998. — № 2. — С. 39. — рос.
series Технология и конструирование в электронной аппаратуре
work_keys_str_mv AT novosâdlyjsp getterirovanieprimesejidefektovvsistemnojtehnologiimikroélektronikibis
first_indexed 2023-10-18T21:23:24Z
last_indexed 2023-10-18T21:23:24Z
_version_ 1796152683053187072