On analysis of the electromagnetic resistance of radioelectronic devices under impulse radiation
The results of investigations on degradation effects in the radioelectronics circuitry under the influence of the high-intensity pulse radiation are given. Analysis of the mechanism of degradation because of shortening the radio pulse radiation wavelength has been carried out. When the wavelength...
Збережено в:
| Дата: | 2018 |
|---|---|
| Автори: | , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English |
| Опубліковано: |
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
2018
|
| Назва видання: | Вопросы атомной науки и техники |
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/147287 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | On analysis of the electromagnetic resistance of radioelectronic devices under impulse radiation / Yu.Р. Loni, A.G. Ponomaryov, V.I. Chumakov // Вопросы атомной науки и техники. — 2018. — № 3. — С. 45-48. — Бібліогр.: 19 назв. — англ. |