Using of proton beam writing techniques for fabrication of micro difraction gratings

To obtain micrometric gratings with a high aspect ratio by lithographic technique, it is proposed to use a proton beam focused in a line and electromagnetic scanning in the transverse direction to irradiate the resistive material. Numerical modeling is carried out to optimize the parameters of the...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2018
Автори: Ponomarev, A.G., Kolinko, S.V., Rebrov, V.A., Kolomiets, V.N., Kravchenko, S.N.
Формат: Стаття
Мова:English
Опубліковано: Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України 2018
Назва видання:Вопросы атомной науки и техники
Теми:
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/147662
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Using of proton beam writing techniques for fabrication of micro difraction gratings / A.G. Ponomarev, S.V. Kolinko, V.A. Rebrov, V.N. Kolomiets, S.N. Kravchenko // Вопросы атомной науки и техники. — 2018. — № 4. — С. 285-288. — Бібліогр.: 13 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id irk-123456789-147662
record_format dspace
spelling irk-123456789-1476622019-02-16T01:23:49Z Using of proton beam writing techniques for fabrication of micro difraction gratings Ponomarev, A.G. Kolinko, S.V. Rebrov, V.A. Kolomiets, V.N. Kravchenko, S.N. Приложения и технологии To obtain micrometric gratings with a high aspect ratio by lithographic technique, it is proposed to use a proton beam focused in a line and electromagnetic scanning in the transverse direction to irradiate the resistive material. Numerical modeling is carried out to optimize the parameters of the probe forming system for this task. The calculations were confirmed during the experimental implementation of the proposed technique. A grating from the 23.4×2060 μm lines was made. Для виробництва мікродифракційних граток з великим аспектним співвідношенням методом літографії запропоновано застосувати для опромінення фоторезисту протонний пучок, сфокусований в лінію, та електромагнітне сканування в поперечному напрямку. Проведене чисельне моделювання з оптимізації параметрів ЗФС для даної задачі. Розрахунки підтверджено при експериментальній реалізації запропонованого методу, виготовлено гратку зi смугами розмірами 23,4×2060 мкм. Для получения микродифракционных решеток с высоким аспектным соотношением методом литографии предложено использовать для облучения фоторезиста протонный пучок, сфокусированный в линию, и электромагнитное сканирование в поперечном направлении. Проведено численное моделирование по оптимизации параметров ЗФС для данной задачи. Расчеты подтверждены при экспериментальной реализации предложенного метода, получена решетка из полос размерами 23,4×2060 мкм. 2018 Article Using of proton beam writing techniques for fabrication of micro difraction gratings / A.G. Ponomarev, S.V. Kolinko, V.A. Rebrov, V.N. Kolomiets, S.N. Kravchenko // Вопросы атомной науки и техники. — 2018. — № 4. — С. 285-288. — Бібліогр.: 13 назв. — англ. 1562-6016 PACS: 42.82.Cr; 85.40.Hp; 81.16.Nd http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/147662 en Вопросы атомной науки и техники Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
language English
topic Приложения и технологии
Приложения и технологии
spellingShingle Приложения и технологии
Приложения и технологии
Ponomarev, A.G.
Kolinko, S.V.
Rebrov, V.A.
Kolomiets, V.N.
Kravchenko, S.N.
Using of proton beam writing techniques for fabrication of micro difraction gratings
Вопросы атомной науки и техники
description To obtain micrometric gratings with a high aspect ratio by lithographic technique, it is proposed to use a proton beam focused in a line and electromagnetic scanning in the transverse direction to irradiate the resistive material. Numerical modeling is carried out to optimize the parameters of the probe forming system for this task. The calculations were confirmed during the experimental implementation of the proposed technique. A grating from the 23.4×2060 μm lines was made.
format Article
author Ponomarev, A.G.
Kolinko, S.V.
Rebrov, V.A.
Kolomiets, V.N.
Kravchenko, S.N.
author_facet Ponomarev, A.G.
Kolinko, S.V.
Rebrov, V.A.
Kolomiets, V.N.
Kravchenko, S.N.
author_sort Ponomarev, A.G.
title Using of proton beam writing techniques for fabrication of micro difraction gratings
title_short Using of proton beam writing techniques for fabrication of micro difraction gratings
title_full Using of proton beam writing techniques for fabrication of micro difraction gratings
title_fullStr Using of proton beam writing techniques for fabrication of micro difraction gratings
title_full_unstemmed Using of proton beam writing techniques for fabrication of micro difraction gratings
title_sort using of proton beam writing techniques for fabrication of micro difraction gratings
publisher Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
publishDate 2018
topic_facet Приложения и технологии
url http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/147662
citation_txt Using of proton beam writing techniques for fabrication of micro difraction gratings / A.G. Ponomarev, S.V. Kolinko, V.A. Rebrov, V.N. Kolomiets, S.N. Kravchenko // Вопросы атомной науки и техники. — 2018. — № 4. — С. 285-288. — Бібліогр.: 13 назв. — англ.
series Вопросы атомной науки и техники
work_keys_str_mv AT ponomarevag usingofprotonbeamwritingtechniquesforfabricationofmicrodifractiongratings
AT kolinkosv usingofprotonbeamwritingtechniquesforfabricationofmicrodifractiongratings
AT rebrovva usingofprotonbeamwritingtechniquesforfabricationofmicrodifractiongratings
AT kolomietsvn usingofprotonbeamwritingtechniquesforfabricationofmicrodifractiongratings
AT kravchenkosn usingofprotonbeamwritingtechniquesforfabricationofmicrodifractiongratings
first_indexed 2023-05-20T17:28:06Z
last_indexed 2023-05-20T17:28:06Z
_version_ 1796153362258853888