Морфологія та оптичні константи нанокристалічних плівок Gе на поверхні Sі(001)

Морфологія та оптичні константи нанокристалічних плівок Gе на поверхні Sі(001)

Нанокристалічні плівки Ge та SiGe вирощені на поверхні Si(001) методом молекулярно-променевої епітаксії. Оптичні константи тонких плівок визначено методом багатокутової монохроматичної еліпсометрії. Оптичні властивості систем описано в моделі ефективного середовища Бруггемана. Показано, що зміна ефе...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2016
Автори: Козирєв, Ю.М., Лисенко, В.С., Гоменюк, Ю. В., Кондратенко, О.С., Іляш, С.А., Кондратенко, С.В.
Формат: Стаття
Мова:Ukrainian
Опубліковано: Інститут хімії поверхні ім. О.О. Чуйка НАН України 2016
Назва видання:Поверхность
Теми:
Наноматериалы и нанотехнологии
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/148526
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Морфологія та оптичні константи нанокристалічних плівок Gе на поверхні Sі(001) / Ю.М. Козирєв, В.С. Лисенко, Ю. В. Гоменюк, О.С. Кондратенко, С.А. Іляш, С.В. Кондратенко // Поверхность. — 2016. — Вип. 8 (23). — С. 218-222. — Бібліогр.: 14 назв. — укр.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id irk-123456789-148526
record_format dspace
spelling irk-123456789-1485262019-02-19T01:23:43Z Морфологія та оптичні константи нанокристалічних плівок Gе на поверхні Sі(001) Козирєв, Ю.М. Лисенко, В.С. Гоменюк, Ю. В. Кондратенко, О.С. Іляш, С.А. Кондратенко, С.В. Наноматериалы и нанотехнологии Нанокристалічні плівки Ge та SiGe вирощені на поверхні Si(001) методом молекулярно-променевої епітаксії. Оптичні константи тонких плівок визначено методом багатокутової монохроматичної еліпсометрії. Оптичні властивості систем описано в моделі ефективного середовища Бруггемана. Показано, що зміна ефективних оптичних констант при нанесенні Si на поверхню нанокластерів Ge зумовлена поруватістю нанокристалічних плівок. The Ge and SiGe nanocrystalline films were grown on Si(001) surface by molecular-beam epitaxy. The optical constants of thin films were determined by multy-angle monochromatic ellipsometry. Optical properties of such systems were described using the Bruggeman's theory of effective medium approximation. Deposition of Si on the surface with Ge nanoclusters changes the effective optical constants due to porosity of the nanocrystalline films. Нанокристаллические пленки Ge и SiGe выращены на поверхности Si(001) методом молекулярно-лучевой эпитаксии. Оптические константы тонких пленок определены методом многоуговой монохроматической эллипсометрии. Оптические свойства систем описаны в модели эффективной среды Бруггемана. Показано, что изменение эффективных оптических констант при нанесении Si на поверхность нанокластеров Ge обусловлено пористостью нанокристаллических пленок. 2016 Article Морфологія та оптичні константи нанокристалічних плівок Gе на поверхні Sі(001) / Ю.М. Козирєв, В.С. Лисенко, Ю. В. Гоменюк, О.С. Кондратенко, С.А. Іляш, С.В. Кондратенко // Поверхность. — 2016. — Вип. 8 (23). — С. 218-222. — Бібліогр.: 14 назв. — укр. 2617-5975 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/148526 535:016 uk Поверхность Інститут хімії поверхні ім. О.О. Чуйка НАН України
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
language Ukrainian
topic Наноматериалы и нанотехнологии
Наноматериалы и нанотехнологии
spellingShingle Наноматериалы и нанотехнологии
Наноматериалы и нанотехнологии
Козирєв, Ю.М.
Лисенко, В.С.
Гоменюк, Ю. В.
Кондратенко, О.С.
Іляш, С.А.
Кондратенко, С.В.
Морфологія та оптичні константи нанокристалічних плівок Gе на поверхні Sі(001)
Поверхность
description Нанокристалічні плівки Ge та SiGe вирощені на поверхні Si(001) методом молекулярно-променевої епітаксії. Оптичні константи тонких плівок визначено методом багатокутової монохроматичної еліпсометрії. Оптичні властивості систем описано в моделі ефективного середовища Бруггемана. Показано, що зміна ефективних оптичних констант при нанесенні Si на поверхню нанокластерів Ge зумовлена поруватістю нанокристалічних плівок.
format Article
author Козирєв, Ю.М.
Лисенко, В.С.
Гоменюк, Ю. В.
Кондратенко, О.С.
Іляш, С.А.
Кондратенко, С.В.
author_facet Козирєв, Ю.М.
Лисенко, В.С.
Гоменюк, Ю. В.
Кондратенко, О.С.
Іляш, С.А.
Кондратенко, С.В.
author_sort Козирєв, Ю.М.
title Морфологія та оптичні константи нанокристалічних плівок Gе на поверхні Sі(001)
title_short Морфологія та оптичні константи нанокристалічних плівок Gе на поверхні Sі(001)
title_full Морфологія та оптичні константи нанокристалічних плівок Gе на поверхні Sі(001)
title_fullStr Морфологія та оптичні константи нанокристалічних плівок Gе на поверхні Sі(001)
title_full_unstemmed Морфологія та оптичні константи нанокристалічних плівок Gе на поверхні Sі(001)
title_sort морфологія та оптичні константи нанокристалічних плівок gе на поверхні sі(001)
publisher Інститут хімії поверхні ім. О.О. Чуйка НАН України
publishDate 2016
topic_facet Наноматериалы и нанотехнологии
url http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/148526
citation_txt Морфологія та оптичні константи нанокристалічних плівок Gе на поверхні Sі(001) / Ю.М. Козирєв, В.С. Лисенко, Ю. В. Гоменюк, О.С. Кондратенко, С.А. Іляш, С.В. Кондратенко // Поверхность. — 2016. — Вип. 8 (23). — С. 218-222. — Бібліогр.: 14 назв. — укр.
series Поверхность
work_keys_str_mv AT kozirêvûm morfologíâtaoptičníkonstantinanokristalíčnihplívokgenapoverhnísí001
AT lisenkovs morfologíâtaoptičníkonstantinanokristalíčnihplívokgenapoverhnísí001
AT gomenûkûv morfologíâtaoptičníkonstantinanokristalíčnihplívokgenapoverhnísí001
AT kondratenkoos morfologíâtaoptičníkonstantinanokristalíčnihplívokgenapoverhnísí001
AT ílâšsa morfologíâtaoptičníkonstantinanokristalíčnihplívokgenapoverhnísí001
AT kondratenkosv morfologíâtaoptičníkonstantinanokristalíčnihplívokgenapoverhnísí001
first_indexed 2023-05-20T17:30:49Z
last_indexed 2023-05-20T17:30:49Z
_version_ 1796153468226895872

Схожі ресурси