2025-02-23T07:11:28-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: Query fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-148914%22&qt=morelikethis&rows=5
2025-02-23T07:11:28-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: => GET http://localhost:8983/solr/biblio/select?fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-148914%22&qt=morelikethis&rows=5
2025-02-23T07:11:28-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: <= 200 OK
2025-02-23T07:11:28-05:00 DEBUG: Deserialized SOLR response
Исследование процесса получения структуры и свойств магнетронных нанослойных FeAl-покрытий Авторы
Работа посвящена исследованию процесса формирования FeAl-покрытия с регулируемым составом на подложках из стали 08Х18Н10Т при совместном магнетронном распылении составной мишени Al + Fe с нагреваемой выше точки Кюри (768°С) вставкой из Ст.3 и алюминиевой мишени. Применение системы цикличного перемещ...
Saved in:
Main Authors: | , , , , , , , |
---|---|
Format: | Article |
Language: | Russian |
Published: |
Інститут електрозварювання ім. Є.О. Патона НАН України
2017
|
Series: | Автоматическая сварка |
Subjects: | |
Online Access: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/148914 |
Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
Summary: | Работа посвящена исследованию процесса формирования FeAl-покрытия с регулируемым составом на подложках из стали 08Х18Н10Т при совместном магнетронном распылении составной мишени Al + Fe с нагреваемой выше точки Кюри (768°С) вставкой из Ст.3 и алюминиевой мишени. Применение системы цикличного перемещения подложки в активных зонах работы магнетронов позволило формировать нанослойную структуру покрытий с толщиной нанослоев Al — 1,3...1,9, Fe — 1,6 нм. Покрытия исследовали методами Оже-спектрометрии, рентгеновской дифракции и микроиндентирования. Установлено, что FeAl-покрытия толщиной 3 мкм, содержащие 39,6 и 54,6 ат. % Al, являются упорядоченной фазой В 2 — FeAl, состоящей из зерен размером 0,135...0,173 и 0,293...0,335 мкм, сформированных из нанокристаллитов размером 7 и 22 нм, соответственно. |
---|